【技术实现步骤摘要】
本申请涉及薄膜生产，具体而言，涉及一种导电薄膜检测装置及复卷机。
技术介绍
1、导电薄膜是指可以导电的复合薄膜，导电薄膜如铜箔、铝箔、复合铜箔或复合铝箔等，导电薄膜用途很广，可以用于电磁屏蔽、作为电池的集流体使用等，导电薄膜表面的金属层可能会有微小的凹陷和凸起等缺陷的不平整位置，这将会影响导电薄膜的质量，进而影响电磁屏蔽、电池等产品的质量。在导电薄膜包装前需要对导电薄膜表面的光滑度进行检测，检测时，可在导电薄膜复卷的过程中对有凹陷和/或凸起的不平整位置进行记录，然后评估导电薄膜卷的产品质量，从而对导电薄膜上有缺陷的地方进行修复。
2、现有的对导电薄膜表面的不平整位置进行检测的方法为人工肉眼观测记录，但是人工观测耗费人力，并且长时间注视导电薄膜表面会对视力健康造成影响，可能出现漏检，检测效率和检测精度均不高。
技术实现思路
1、本申请的主要目的在于提供一种导电薄膜检测装置及复卷机，以至少解决
技术介绍
中提到的人工检测导电薄膜表面凹凸点带来的耗费人力、检测效率和检测精度均不高的问题。
2、根本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种导电薄膜检测装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的导电薄膜检测装置，其特征在于，所述检测组件包括：
3.根据权利要求2所述的导电薄膜检测装置，其特征在于，所述放置部包括：
4.根据权利要求3所述的导电薄膜检测装置，其特征在于，所述支撑架(10)包括：
5.根据权利要求4所述的导电薄膜检测装置，其特征在于，所述照明器为平板灯(20)，所述平板灯(20)为向所述支撑辊(11)提供面光源的照明器具；和/或，所述平板灯(20)所处平面与所述支撑辊(11)的轴线平行。
6.根据权利要求4所述的导电薄...
【技术特征摘要】
1.一种导电薄膜检测装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的导电薄膜检测装置，其特征在于，所述检测组件包括：
3.根据权利要求2所述的导电薄膜检测装置，其特征在于，所述放置部包括：
4.根据权利要求3所述的导电薄膜检测装置，其特征在于，所述支撑架(10)包括：
5.根据权利要求4所述的导电薄膜检测装置，其特征在于，所述照明器为平板灯(20)，所述平板灯(20)为向所述支撑辊(11)提供面光源的照明器具；和/或，所述平板灯(20)所处平面与所述支撑辊(11)的轴线平行。
6.根据权利要求4所述的导电薄膜检测装置，其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员：臧世伟，
申请(专利权)人：深圳金美新材料科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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