【技术实现步骤摘要】
本技术属于产品测试，尤其涉及一种芯片性能测试装置。
技术介绍
1、随着科学技术的不断发展，计算机视觉技术越来越成熟。比如事件型图像传感器(evs，event-based vision sensor)等受到越来越多的关注。evs模拟人类的视网膜，响应由于运动产生的亮度变化的像素点脉冲，因此它能够以极高的帧率捕获场景的亮度变化，记录特定时间点和图像中特定位置的事件，形成事件流而不是帧流，从而解决了传统相机信息冗余、大量数据存储和实时处理等问题。
2、将芯片(图像传感器)应用于电子设备时，需要进行性能测试。然而，相关技术中，对芯片进行测试的光源装置通常体积较大，包含的器件较多，生产成本高，难以满足实际需求。
技术实现思路
1、本技术的技术目的在于提供一种芯片性能测试装置，旨在解决相关技术中，对芯片进行测试的光源装置通常体积较大，且一般置于固定位置，难以移动和携带，并不适用于便携式电子设备的芯片性能测试的技术问题。
2、为解决上述技术问题，本技术是这样实现的，一种芯片性能测...
【技术保护点】
1.一种芯片性能测试装置，用于测试便携式电子设备的图像传感器的性能，其特征在于，所述测试装置包括：壳体、电路板和定位器，所述壳体具有收容腔，所述电路板装配于所述收容腔内；所述电路板的一侧设置有测试光源，所述壳体开设有第一通孔，所述测试光源朝向所述第一通孔，所述定位器与所述第一通孔连接且部分突出于所述收容腔外，所述定位器开设有第二通孔，所述定位器用于使所述测试光源和图像传感器对齐。
2.根据权利要求1所述的芯片性能测试装置，其特征在于，所述定位器包括位于所述收容腔外的主体部、以及连接于所述主体部的连接部，所述第一通孔的孔壁设置有第一螺纹，所述连接部的外侧设置...
【技术特征摘要】
1.一种芯片性能测试装置，用于测试便携式电子设备的图像传感器的性能，其特征在于，所述测试装置包括：壳体、电路板和定位器，所述壳体具有收容腔，所述电路板装配于所述收容腔内；所述电路板的一侧设置有测试光源，所述壳体开设有第一通孔，所述测试光源朝向所述第一通孔，所述定位器与所述第一通孔连接且部分突出于所述收容腔外，所述定位器开设有第二通孔，所述定位器用于使所述测试光源和图像传感器对齐。
2.根据权利要求1所述的芯片性能测试装置，其特征在于，所述定位器包括位于所述收容腔外的主体部、以及连接于所述主体部的连接部，所述第一通孔的孔壁设置有第一螺纹，所述连接部的外侧设置有与所述第一螺纹匹配的第二螺纹，所述第一螺纹和所述第二螺纹连接；所述主体部的轴向投影面覆盖所述第一通孔。
3.根据权利要求1所述的芯片性能测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括围合于所述测试光源周侧的隔热罩，所述隔热罩固定于所述电路板和所述壳体之间，且所述隔热罩的两端开设有第三通孔，所述测试光源、所述第三通孔和所述第二通孔位于同一轴线上。
4.根据权利要求3所述的芯片性能测试装置，其特征在于，所述第一通孔的孔壁还设置有第三螺纹，所述隔热罩的外侧设置有与所述第三螺纹匹配的第四螺纹，所述第三螺纹和所述第四螺纹连接。
5.根据权利要求1所述的芯片性能...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨子荣，黄晓伟，
申请(专利权)人：深圳锐视智芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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