【技术实现步骤摘要】
本申请涉及数据存储，具体涉及一种数据烧写验证方法、数据烧写验证装置和电子设备。
技术介绍
1、otp（one time programmable，一次性可编程）存储器常常被用在ic电路中。但由于其一次性可编程的特性，即单个地址只允许烧写一次，且不可擦除，有时会给芯片带来使用风险。这主要是因为otp的烧写是有概率失败的，一旦烧写的最终值和目标值不符，就会导致芯片在工作时从otp中读取出一个错误的非期望的值，从而可能导致芯片无法正常工作。所以在后道检测工序cp/ft（circuit probing、chip probing，晶圆测试/final test，最终测试）中，即使芯片其它功能正常，但只要检测到otp烧写错误，这颗ic也会被剔除掉。一旦otp烧写错误的概率较高时，就会造成芯片良率不达标，最终影响到芯片的制造成本。
技术实现思路
1、为了解决上述技术问题，本申请提供了一种数据烧写验证方法、数据烧写验证装置和电子设备，以解决现有技术中的问题。
2、根据本专利技术的一方面，提供一...
【技术保护点】
1.一种数据烧写验证方法，包括：
2.根据权利要求1所述的数据烧写验证方法，其中，将所述第一写数据与所述目标数据进行数值比对，生成第一标志位数据和第二标志位数据的步骤包括：
3.根据权利要求1所述的数据烧写验证方法，还包括：
4.根据权利要求3所述的数据烧写验证方法，还包括：
5.根据权利要求4所述的数据烧写验证方法，其中，将所述第二循环冗余校验码与从所述第四地址空间获取的所述第一循环冗余校验码进行比对，根据比对结果产生第三标志位数据的步骤包括：
6.根据权利要求1或4所述的数据烧写验证方法，在所述目标数据烧...
【技术特征摘要】
1.一种数据烧写验证方法，包括：
2.根据权利要求1所述的数据烧写验证方法，其中，将所述第一写数据与所述目标数据进行数值比对，生成第一标志位数据和第二标志位数据的步骤包括：
3.根据权利要求1所述的数据烧写验证方法，还包括：
4.根据权利要求3所述的数据烧写验证方法，还包括：
5.根据权利要求4所述的数据烧写验证方法，其中，将所述第二循环冗余校验码与从所述第四地址空间获取的所述第一循环冗余校验码进行比对，根据比对结果产生第三标志位数据的步骤包括：
6.根据权利要求1或4所述的数据烧写验证方法，在所述目标数据烧写成功的情况下，所述数据烧写验证方...
【专利技术属性】
技术研发人员：雷靖，刘计平，李士达，雍尚刚，
申请(专利权)人：北京集创北方科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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