光电检测装置、成像装置和测距装置制造方法及图纸

技术编号:41716209 阅读:18 留言:0更新日期:2024-06-19 12:43
根据本公开的一个方面的光电检测装置包括脉冲响应部、模拟计数部和复位部。所述脉冲响应部响应于光入射而生成脉冲信号。所述模拟计数部通过基于所述脉冲信号执行计数处理来生成模拟第一计数值。当所述第一计数值超过第一阈值时,所述复位部复位所述第一计数值。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本公开涉及使用雪崩光电二极管(apd)的光电检测装置、成像装置和测距装置


技术介绍

1、在使用apd的光电检测装置中,模拟计数器近年来被设置在apd的后级。然而,在这种情况下,由于像素内泄漏或电容变化的影响,只能使用大约7比特至9比特的信号作为4v模拟计数器的输出信号。因此,涉及大量读取次数的应用由于用于a/d转换的时间而具有帧频限制的问题。为了解决这个问题,可以设想除了模拟计数器之外还使用1比特数字计数器以将输出信号的比特数扩大1比特(参见ptl 1)。

2、引用文献列表

3、专利文献

4、ptl 1:国际公开第wo2016/042734号


技术实现思路

1、然而,在ptl 1中记载的方法中,在读取时会多次读取模拟值,使得基本上无法解决帧频限制的问题。因此,希望提供一种在使用模拟计数器的同时减少帧频限制的光电检测装置、成像装置和测距装置。

2、根据本公开第一实施方案的光电检测装置包括脉冲响应部、模拟计数部和复位部。所述脉冲响应部响应于光入射而生成脉冲信号。所本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光电检测装置,包括:

2.根据权利要求1所述的光电检测装置,其中

3.根据权利要求1所述的光电检测装置,还包括开关,在所述开关处通过单独的控制信号控制所述数字信号向所述第一数字计数器的输出和所述第一计数值向所述A/D转换部的输出。

4.根据权利要求3所述的光电检测装置,其中所述复位部在当所述第一计数值超过所述第一阈值时保持所述数字信号,并且在当所述复位部输出所述数字信号时复位所述第一计数值。

5.根据权利要求3所述的光电检测装置,其中所述复位部包括保持和输出所述数字信号的第二数字计数器。

6.根据权利要求2所述的光电检测...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种光电检测装置,包括:

2.根据权利要求1所述的光电检测装置,其中

3.根据权利要求1所述的光电检测装置,还包括开关,在所述开关处通过单独的控制信号控制所述数字信号向所述第一数字计数器的输出和所述第一计数值向所述a/d转换部的输出。

4.根据权利要求3所述的光电检测装置,其中所述复位部在当所述第一计数值超过所述第一阈值时保持所述数字信号,并且在当所述复位部输出所述数字信号时复位所述第一计数值。

5.根据权利要求3所述的光电检测装置,其中所述复位部包括保持和输出所述数字信号的第二数字计数器。

6.根据权利要求2所述的光电检测装置,其中

7.根据权利要求1所述的光电检测装置,其中所述脉冲响应部包括雪崩光电二极管和与所述雪崩光电二极管串联的淬灭电路。

8.一种成像装置,包括:

9.根据权利要求8所述的成像装置,其中

10.根据权利要求8所述的成像装置,还包括开关,在所述开关处通过单...

【专利技术属性】
技术研发人员:高塚挙文
申请(专利权)人:索尼半导体解决方案公司
类型:发明
国别省市:

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