【技术实现步骤摘要】
所属的技术人员能够理解，本专利技术提供的基于高频射线的电缆劣化评估方法各个方面可以实现为系统、方法或程序产品。因此，本公开的各个方面可以具体实现为以下形式，即：完全的硬件实施方式、完全的软件实施方式(包括固件、微代码等)，或硬件和软件方面结合的实施方式，这里可以统称为“电路”、“模块”或“系统”。在储存基于高频射线的电缆劣化评估方法的非暂态计算机可读存储介质中，可以为但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(ram)、只读存储器(rom)、可擦式可编程只读存储器(eprom或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(cd-rom)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本专利技术。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本专利技术的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本专利技术将...
【技术保护点】
1.一种基于高频射线的电缆劣化评估方法，其特征在于，方法包括：
2.根据权利要求1所述的基于高频射线的电缆劣化评估方法，其特征在于，步骤1中，扫描速率为10°/min，步长为0.02°。
3.根据权利要求1所述的基于高频射线的电缆劣化评估方法，其特征在于，步骤1中的扫描范围设置为15°-30°，采用Cu靶辐射，工作电压设置为40kV。
4.根据权利要求3所述的基于高频射线的电缆劣化评估方法，其特征在于，步骤1中，计衍射峰角度θ范围为19.5到20.5，范围内对于的衍射峰强度为I，计衍射峰角度θ范围为22.5到23.5范围内对于的衍射
...【技术特征摘要】
1.一种基于高频射线的电缆劣化评估方法，其特征在于，方法包括：
2.根据权利要求1所述的基于高频射线的电缆劣化评估方法，其特征在于，步骤1中，扫描速率为10°/min，步长为0.02°。
3.根据权利要求1所述的基于高频射线的电缆劣化评估方法，其特征在于，步骤1中的扫描范围设置为15°-30°，采用cu靶辐射，工作电压设置为40kv。
4.根据权利要求3所述的基于高频射线的电缆劣化评估方法，其特征在于，步骤1中，计衍射峰角度θ范围为19.5到20.5，范围内对于的衍射峰强度为i，计衍射峰角度θ范围为22.5到23.5范围内对于的衍射峰强度为k。
5.根据权利要求4所述的基于高频射线的电缆劣化评估方法，其特征在于，步骤2基于如下公式计算计算待评估电缆晶体扭曲系数α：
6.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员：穆强，李刚，赵化宾，侯言兵，梁志，张广毅，刁天一，岳远省，魏燕杰，
申请(专利权)人：国网山东省电力公司聊城供电公司，
类型：发明
国别省市：
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