【技术实现步骤摘要】
本专利技术实施例涉及电压校准技术，尤其涉及一种失调电压的校准方法和电路。
技术介绍
1、失调电压是运算放大器芯片的重要指标，受电路结构、器件特性、工艺偏差、温度变化、封装应力、时间老化等多方面综合影响，一般符合正态分布特征。每个运算放大器芯片的失调电压各不相同，需要逐个进行校准，校准后的失调电压越小，运放则越精密。
2、早期运算放大器失调电压修调方案，以晶圆级修调为主，缺点是修调后封装应力造成的失调影响无法处理，导致高精密成品芯片良率下降。当前运算放大器失调电压修调方案，越来越多的采用封装后电修调的方式对失调电压(失调电压随温度变化)进行一次性修调。这种方法的缺陷是芯片终测阶段需要常温机台和高温机台两套独立的硬件平台环境，以满足不同温度的测试环境需求，并将终测(校准、筛选)流程拆成时间上平台上完全独立的两个操作阶段，不仅常温硬件平台和高温硬件平台需要重复投入，而且两次硬件平台的物料导入/导出和机台切换准备都需要消耗测试机时，大大增加了测试成本和测试时间。
技术实现思路
1、本专...
【技术保护点】
1.一种失调电压的校准方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述在预设第一时刻之前控制目标器件的校准电路工作在常温模式，包括：
3.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述在所述预设第一时刻至预设第二时刻之间，控制所述校准电路工作在高温模式，包括：
4.根据权利要求3所述的校准方法，其特征在于，所述控制所述校准电路的加热状态为工作状态，包括：
5.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述在所述预设第一时刻至预设第二时刻之间，控制所述校准电路工作在高温模式之后，包括：
<...【技术特征摘要】
1.一种失调电压的校准方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述在预设第一时刻之前控制目标器件的校准电路工作在常温模式，包括：
3.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述在所述预设第一时刻至预设第二时刻之间，控制所述校准电路工作在高温模式，包括：
4.根据权利要求3所述的校准方法，其特征在于，所述控制所述校准电路的加热状态为工作状态，包括：
5.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述在所述预设第一时刻至预设第二时刻之间，控制所述校准电路工作在高温模式之后，包括：
6.根据权利要求5所述的校准方法，其特征在于，所述目标器件包括运算放大器。
7.一种失调电压的校准电路，其特征在于，包...
【专利技术属性】
技术研发人员：潘杰，原义栋，沈红伟，温立国，
申请(专利权)人：北京智芯微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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