跟踪调试电路、芯片及电子设备制造技术

本申请公开了一种跟踪调试电路、芯片及电子设备，该跟踪调试电路包括点对点传输链路，点对点传输链路的一端用于连接外部调试设备，另一端与待调试芯片的存储模块连接，存储模块中存储有待调试芯片在调试过程中产生的跟踪调试数据；点对点传输链路用于将存储模块响应于读取指令所发出的跟踪调试数据传输至外部调试设备。本申请的跟踪调试电路通过点对点传输链路连接外部调试设备与待调试芯片的存储模块，实现存储模块中存储的跟踪调试数据点对点地传输至外部调试设备，能够提高跟踪调试数据的传输效率，避免相关技术中因JTAG接口工作所依据的标准以及数据读取路径的限制而导致的数据传输效率低的问题，提高了待调试芯片的调试效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及芯片调试，具体涉及一种跟踪调试电路、芯片及电子设备。

技术介绍

1、在芯片运行出现故障时，可以通过个人计算机(personal computer，pc)等外部设备对芯片进行调试来分析芯片的工作过程，并将芯片调试过程中产生的跟踪调试数据进行跟踪输出。

2、目前，针对于跟踪调试数据的输出方式有两种：一种是通过跟踪接口(trace-port)实时输出跟踪调试数据；另一种是将跟踪调试数据暂存到芯片的存储模块中，当芯片停止工作后，再通过上位机读取存储模块中暂存的跟踪调试数据。

3、相关技术中上位机通过联合测试工作组(joint test action group，jtag)接口经数据处理模块连接的跟踪存储控制器(trace memory controller，tmc)来访问存储模块，读取存储模块中暂存的跟踪调试数据，但是这种读取方式受限于jtag接口工作所依据的标准以及读取路径，导致数据的传输效率极低，从而影响芯片的调试效率。

技术实现思路

1、鉴于以上问题，本申请提供一种跟踪调试电路本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种跟踪调试电路，其特征在于，包括点对点传输链路，所述点对点传输链路的一端用于连接外部调试设备，另一端与待调试芯片的存储模块连接，所述存储模块中存储有所述待调试芯片在调试过程中产生的跟踪调试数据；

2.根据权利要求1所述的跟踪调试电路，其特征在于，所述点对点传输链路还用于将所述外部调试设备发出的存储指令传输至所述存储模块，以使所述存储模块响应于所述存储指令对所述存储指令中携带的待存储数据进行存储。

3.根据权利要求2所述的跟踪调试电路，其特征在于，所述存储指令为所述外部调试设备在所述待调试芯片调试前发出的指令，所述待存储数据为针对于所述待调试芯片的调试环境的配...

【技术特征摘要】

1.一种跟踪调试电路，其特征在于，包括点对点传输链路，所述点对点传输链路的一端用于连接外部调试设备，另一端与待调试芯片的存储模块连接，所述存储模块中存储有所述待调试芯片在调试过程中产生的跟踪调试数据；

2.根据权利要求1所述的跟踪调试电路，其特征在于，所述点对点传输链路还用于将所述外部调试设备发出的存储指令传输至所述存储模块，以使所述存储模块响应于所述存储指令对所述存储指令中携带的待存储数据进行存储。

3.根据权利要求2所述的跟踪调试电路，其特征在于，所述存储指令为所述外部调试设备在所述待调试芯片调试前发出的指令，所述待存储数据为针对于所述待调试芯片的调试环境的配置数据。

4.根据权利要求2所述的跟踪调试电路，其特征在于，所述存储指令为所述外部调试设备在所述待调试芯片的调试暂停阶段发出的指令，所述待存储数据为针对于所述待调试芯片的处理器内核的待校准数据。

5.根据权利要求1或2所述的跟踪调试电路，其特征在于，所述点对点传输链路包括访问接口单元以及与所述访问接口单元连接的总线单元，所述访问接口单元用于连接所述外部调试设备，所述总线单元与所述存储模块连接。

6.根据权利要求5所述的跟踪调试电路，其特征在于，所述访问接口单元包括高速接口，所述高速接口用于与所述总线单元配合，进行所述外部调试设备与所述待调试芯片之间的数据传输。

7.根据权利要求6所述的跟踪调试电路，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：程旭敏，王世好，
申请(专利权)人：成都芯海创芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：