一种芯片测试装置制造方法及图纸

技术编号:41680999 阅读:18 留言:0更新日期:2024-06-14 15:34
本技术公开了一种芯片测试装置,属于芯片测试技术领域,包括底座,底座的上表面固定连接有支撑架,支撑架的内部转动连接有丝杆,丝杆的侧表面螺纹连接有移动板,移动板的上表面通过防抖组件连接有放置板,放置板的上表面固定连接有放置框,放置框的内侧壁固定连接有密封圈,放置框的内部固定连接有气管,气管的一端固定连接有气泵,气泵与底座的上表面固定连接。能够避免了传统的测试装置对芯片测试时进行夹持固定,从而防止对芯片的边缘造成一定的变形导致芯片的质量降低或者损坏,影响芯片的检测结果,其次在对芯片检测过程中能够避免降低了芯片的晃动,因此进一步提高了芯片测试数据结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种芯片测试装置,属于芯片测试。


技术介绍

1、芯片,在电子学中是一种将电路,主要包括半导体设备,也包括被动组件等小型化的方式,并时常制造在半导体晶圆表面上,设计初期系统级芯片测试,由于每个功能元件都有其自身的测试要求,设计工程师必须在设计初期就做出测试规划,微处理器芯片在生产过程中,为了保证芯片各个性能达到指标,需要对芯片进行详细的测试。

2、目前现有的芯片检测装置在对芯片进行检测固定时通常都是对芯片进行夹持固定,由于芯片的精度比较高在夹持时容易造成芯片边缘变形从而会降低芯片检测的质量,严重时会导致芯片损坏;其次在检测时需要对芯片进行移动,而现有的芯片检测装置在对芯片进行移动时会造成芯片抖动的比较严重,因此增加了芯片检测的误差。


技术实现思路

1、本技术的目的就在于为了解决上述问题而提供一种芯片测试装置,能够避免了传统的测试装置对芯片测试时进行夹持固定,从而防止对芯片的边缘造成一定的变形导致芯片的质量降低或者损坏,影响芯片的检测结果,其次在对芯片检测过程中能够避免降低了芯片的晃动,因此本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种芯片测试装置,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)的上表面固定连接有支撑架(3),且支撑架(3)的内部转动连接有丝杆(8),所述丝杆(8)的侧表面螺纹连接有移动板(4),且移动板(4)的上表面通过防抖组件连接有放置板(7),所述放置板(7)的上表面固定连接有放置框(5),且放置框(5)的内侧壁固定连接有密封圈(6),所述放置框(5)的内部固定连接有气管(12),且气管(12)的一端固定连接有气泵(10),所述气泵(10)与底座(1)的上表面固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置,其特征在于:所述防抖组件包括气动阻尼器(15),且气动阻尼器(15)的...

【技术特征摘要】

1.一种芯片测试装置,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)的上表面固定连接有支撑架(3),且支撑架(3)的内部转动连接有丝杆(8),所述丝杆(8)的侧表面螺纹连接有移动板(4),且移动板(4)的上表面通过防抖组件连接有放置板(7),所述放置板(7)的上表面固定连接有放置框(5),且放置框(5)的内侧壁固定连接有密封圈(6),所述放置框(5)的内部固定连接有气管(12),且气管(12)的一端固定连接有气泵(10),所述气泵(10)与底座(1)的上表面固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置,其特征在于:所述防抖组件包括气动阻尼器(15),且气动阻尼器(15)的两端通过球形铰接件分别与移动板(4)上表面和放置板(7)的下表连接,...

【专利技术属性】
技术研发人员:李关辉李清龙李永华吴庆全
申请(专利权)人:合肥哈工宪明科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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