一种测量离子碰撞截面和质荷比的静电阱装置及测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术属于质谱技术领域，具体说是一种测量离子碰撞截面和质荷比的静电阱装置及测量方法，包括：数据采集模块、真空腔体A、真空腔体B、离子束发射器、离子透镜、反射镜电极组、感应电极组以及离子探测器；在所述真空腔室B内从左至右顺次设有离子束发射器和离子透镜；所述真空腔体A固设于真空腔体B一侧；所述反射镜电极组、感应电极组和离子探测器均设于真空腔室A内；所述离子探测器设于真空腔体A内远离离子透镜的一侧，且与数据采集模块连接；所述数据采集模块与感应电极组连接。本发明专利技术利用离子在静电阱中往复运动与中性分子碰撞散射，获得离子信号的衰荡谱，可以反演颗粒或者大分子的碰撞截面CCS，提高定性准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于质谱，具体说是一种测量离子碰撞截面和质荷比的静电阱装置及测量方法。

技术介绍

1、质谱可以测量生物分子的质荷比信息，结合碰撞诱导解离可以获得生物分子的结构信息，是定性分析的利器。然而，质谱难以获得生物分子的构象和构型信息，而这些与活性密切相关。此外，碰撞诱导解离产生的碎片有限，也难以满足生物分子进一步精确定性测量的需求。离子迁移谱技术可以测量气相离子的碰撞截面信息，并且可以利用离子截面大小差异实现分离。目前众多研究和商品化公司发展了包括均匀场迁移谱dt-ims、非对称场迁移谱fims、差分迁移谱dms、阱迁移谱tims和行波场迁移谱traveling wave ims，并且将这些可以测量离子截面离子迁移谱技术与质谱串联起来，获得更为强大的分析功能。

2、mordehai等人专利技术的利用离子迁移谱快速测量离子碰撞截面的方法(专利号us9482642b2)，样品离子的碰撞截面(ccs)可以通过测量样品离子通过离子迁移谱漂移室行进到离子检测器所花费的总漂移时间来计算。ccs可基于所测量的总漂移时间和限定样品离子行进通过漂移单元和检测器本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测量离子碰撞截面和质荷比的静电阱装置，其特征在于，包括：数据采集模块(9)、真空腔体A(11)、真空腔体B(12)、离子束发射器、离子透镜(2)、反射镜电极组、感应电极组以及离子探测器(7)；

2.根据权利要求1所述的一种测量离子碰撞截面和质荷比的静电阱装置，其特征在于，所述真空腔体B(12)和真空腔体A(11)上设有离子束(1)穿过的通孔，且通孔正对离子束发射器发射端设置，两个所述通孔相互重合设置，所述通孔直径大于离子束(1)的直径。

3.根据权利要求1所述的一种测量离子碰撞截面和质荷比的静电阱装置，其特征在于，所述反射镜电极组，包括：第一反射镜电极组(...

【技术特征摘要】

1.一种测量离子碰撞截面和质荷比的静电阱装置，其特征在于，包括：数据采集模块(9)、真空腔体a(11)、真空腔体b(12)、离子束发射器、离子透镜(2)、反射镜电极组、感应电极组以及离子探测器(7)；

2.根据权利要求1所述的一种测量离子碰撞截面和质荷比的静电阱装置，其特征在于，所述真空腔体b(12)和真空腔体a(11)上设有离子束(1)穿过的通孔，且通孔正对离子束发射器发射端设置，两个所述通孔相互重合设置，所述通孔直径大于离子束(1)的直径。

3.根据权利要求1所述的一种测量离子碰撞截面和质荷比的静电阱装置，其特征在于，所述反射镜电极组，包括：第一反射镜电极组(3)和第二反射镜电极组(4)；

4.根据权利要求3所述的一种测量离子碰撞截面和质荷比的静电阱装置，其特征在于，第一反射镜电极组(3)或第二反射镜电极组(4)均为：三个以上同轴设置的圆环电极、三个以上同轴设置的回字型的中空矩形电极，或底部设有开孔的内凹柱状电极中的任意一种。

5.根据权利要求1所述的一种测量离子碰撞截面和质荷比的静电阱装置，其特征在于，所述感应电极...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈平，李海洋，陈懿，曹艺雪，文宇轩，
申请(专利权)人：中国科学院大连化学物理研究所，
类型：发明
国别省市：