用于检测导通性的附连板及其制造方法技术

技术编号:41680090 阅读:22 留言:0更新日期:2024-06-14 15:33
本发明专利技术公开了一种用于检测导通性的附连板及其制造方法,它属于载板加工领域,其解决现有技术中检测层间导通孔的导通性较为麻烦的问题。它主要由测试盘、激光孔和机械孔组成孔链结构,测试窗口是导体层表面开设一个油墨开窗,测试窗口下的测试盘与激光孔串联,测试窗口主要用于电阻测试仪的探针接触。测试窗口与激光孔、机械孔串联,串联过程中设有的多个测试窗口可以测量多个节点的阻值变化,来反应层间导通是否良好。本发明专利技术能够分段检测孔上镀铜设计连接性与导通性,提高成品率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及载板加工领域,具体地说,尤其涉及一种用于检测导通性的附连板及其制造方法


技术介绍

1、现行业内,检验载板电镀与层间导通孔的导通性,需对载板进行切片处理;现有技术中公开号为cn114813767a的申请公开了一种电路板缺陷测试方法,用于测试电路板上的各种结构缺陷,观察各图形间是否有空隙或连接不紧密的部位。此方法缺点有:

2、1、要切片破坏载板才能观察到截面状态,增加不必要的生产浪费,提高了生产成本;

3、2、切片观察漏检性较大,无法保证切片观察位置即是不良发生位置,也无法保证未切片位置无异常;

4、3、打磨切片需要花费较长的时间,降低生产和检查效率,无法达到企业高效率的要求。

5、目前缺少一种不会对载板造成浪费的检测附连扳。


技术实现思路

1、本专利技术的目的,在于提供一种用于检测导通性的附连板及其制造方法,以解决现有技术中检测层间导通孔的导通性较为麻烦的问题。

2、本专利技术是通过以下技术方案实现的:

3、一种用于检测孔镀本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于检测导通性的附连板,包括测试载板,其特征在于:附连板设置在测试载板上且与测试载板层间导通,附连板包括绝缘层、导体层和阻焊层(5),所述的绝缘层包括中间绝缘层(1)、上绝缘层(3)和下绝缘层(6);所述的导体层包括内导体层(2)和外导体层(4),中间绝缘层(1)两侧设有内导体层(2),其中上侧的内导体层(2)的外侧设有上绝缘层(3),下侧的内导体层(2)外侧设有下绝缘层(6);所述的上绝缘层(3)和下绝缘层(6)的外侧分别设有外导体层(4),外导体层(4)的外侧覆盖有阻焊层(5),阻焊层(5)开设有若干个测试窗口;所述的内导体层(2)与外导体层(4)之间通过若干激光孔(7)连通...

【技术特征摘要】

1.一种用于检测导通性的附连板,包括测试载板,其特征在于:附连板设置在测试载板上且与测试载板层间导通,附连板包括绝缘层、导体层和阻焊层(5),所述的绝缘层包括中间绝缘层(1)、上绝缘层(3)和下绝缘层(6);所述的导体层包括内导体层(2)和外导体层(4),中间绝缘层(1)两侧设有内导体层(2),其中上侧的内导体层(2)的外侧设有上绝缘层(3),下侧的内导体层(2)外侧设有下绝缘层(6);所述的上绝缘层(3)和下绝缘层(6)的外侧分别设有外导体层(4),外导体层(4)的外侧覆盖有阻焊层(5),阻焊层(5)开设有若干个测试窗口;所述的内导体层(2)与外导体层(4)之间通过若干激光孔(7)连通,外导体层(4)设有若干测试盘(9),测试窗口与测试盘(9)配合,中间绝缘层(1)上开设有若干机械孔(8),两个内导体层(2)之间通过机械孔(8)连通,激光孔(7)和机械孔(8)上镀铜。

2.根据权利要求1所述的用于检测导通性的附连板,其特征在于:所述的中间绝缘层(1)厚度范围为100-120um;所述的上绝缘层(3)和下绝缘层(6)的厚度范围为25-40um;所述的内导体层(2)和外导体层(4)的厚度范围为25-40um;所述的阻焊层(5)的厚度范围为15-25um。

3.根据权利要求1所述的用于检测导通性的附连板,其特征在于:所述的绝缘层的材料采用树脂,导体层的材料采用铜箔。

4.根据权利要求1所述的用于检测导通性的附连板,其特征在于:所述的激光孔(7)和机...

【专利技术属性】
技术研发人员:祝国旗卞有义覃祥丽宋心语
申请(专利权)人:淄博芯材集成电路有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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