【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种投影仪、一种用于确定至少一个对象的位置的检测器以及一种用于确定至少一个对象的位置的方法。本专利技术进一步涉及该检测器的各种用途。根据本专利技术的装置、方法和用途具体地可以用于各个领域，例如日常生活、游戏、交通技术、生产技术、安保技术、摄影(比如用于艺术、文档或技术目的的数字摄影或视频摄影)、医疗技术或科学。进一步地，本专利技术具体可以用于例如在建筑学、计量学、考古学、艺术、医学、工程或制造领域中扫描一个或多个对象和/或扫描风景，比如用于生成对象或风景的深度剖面。然而，其他应用也是可能的。
技术介绍
1、现有技术已知大量使用结构光方法进行3d测量的光学装置和方法。通常，在这些装置和方法中，投射点图案，并记录和评估反射的图案。例如，该图案是通过将发光二极管(led)和衍射光学元件(doe)组合而生成的。然而，对于复杂的对象，必须解决所谓的对应问题，即，对象的哪个点是由哪个光束生成的。已知有几种解决对应问题的方法，但是这些方法复杂且耗时。
2、本专利技术解决的问题
3、因此，本专利技术的目的是提供面对...
【技术保护点】
1.一种投影仪(122)，用于利用至少一个照射图案(124)来照射至少一个对象(112)，其中，该照射图案(124)包括多个照射特征(125)，其中，该照射图案(124)进一步包括至少一个标记(160)。
2.根据前一项权利要求所述的投影仪(122)，其中，该照射图案(124)包括照射特征(125)的网格，其中，该标记(160)是选自由以下各项组成的组中的至少一种元素：孔、孔的图案、附加照射特征、附加照射特征的图案、网格周期性的局部偏差、波长的局部偏差。
3.根据前述权利要求中任一项所述的投影仪(122)，其中，该投影仪(122)包括多个发射器
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种投影仪(122)，用于利用至少一个照射图案(124)来照射至少一个对象(112)，其中，该照射图案(124)包括多个照射特征(125)，其中，该照射图案(124)进一步包括至少一个标记(160)。
2.根据前一项权利要求所述的投影仪(122)，其中，该照射图案(124)包括照射特征(125)的网格，其中，该标记(160)是选自由以下各项组成的组中的至少一种元素：孔、孔的图案、附加照射特征、附加照射特征的图案、网格周期性的局部偏差、波长的局部偏差。
3.根据前述权利要求中任一项所述的投影仪(122)，其中，该投影仪(122)包括多个发射器(126)。
4.根据前一项权利要求所述的投影仪(122)，其中，这些发射器(126)中的至少一个是被配置为生成该标记(160)的标记发射器，其中，其他发射器(126)中的每一个被配置为生成这些照射特征(125)中的至少一个。
5.根据前述权利要求中任一项所述的投影仪(122)，其中，该投影仪(122)包括被配置为生成该标记(160)的至少一个掩模。
6.根据前述权利要求中任一项所述的投影仪(122)，其中，该投影仪(122)包括至少一个光学元件，该至少一个光学元件被配置为调整这些发射器(126)中的至少一个的波长，从而生成该标记(160)，和/或其中，这些发射器(126)中的至少一个被配置为以不同于其他发射器的波长进行发射，从而生成该标记(160)。
7.根据前三项权利要求中任一项所述的投影仪(122)，其中，该投影仪(122)包括至少一个控制单元(136)，该至少一个控制单元被配置为关闭和打开用于生成该标记(160)的发射器(126)。
8.一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110)，该检测器(110)包括：
【专利技术属性】
技术研发人员：B·莱因，P·费耶斯，C·邦西诺，A·施密特，J·D·A·科洛切克，
申请(专利权)人：特里纳米克斯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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