【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及计算机，尤其涉及一种项目缺陷统计方法、设备、存储介质及装置。
技术介绍
1、目前，在统计缺陷信息时，通常只能人工统计缺陷信息，从而存在费时费力、效率低的缺陷。
2、上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
技术实现思路
1、本专利技术的主要目的在于提供一种项目缺陷统计方法、设备、存储介质及装置，旨在解决现有技术中在统计缺陷信息时，通常只能人工统计缺陷信息，从而存在费时费力、效率低的技术问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供一种项目缺陷统计方法，所述项目缺陷统计方法包括以下步骤：
3、根据目标项目信息确定多个缺陷统计维度；
4、基于所述缺陷统计维度获取目标项目在交付过程中的缺陷信息；
5、根据所述缺陷信息统计所述目标项目的项目缺陷。
6、可选地，所述项目缺陷包括：有效缺陷信息、缺陷类型信息、缺陷修复信息、缺陷分布信息以及缺陷燃尽图中的至少一种。
7、可选地...
【技术保护点】
1.一种项目缺陷统计方法，其特征在于，所述项目缺陷统计方法包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的项目缺陷统计方法，其特征在于，所述项目缺陷包括：有效缺陷信息、缺陷类型信息、缺陷修复信息、缺陷分布信息以及缺陷燃尽图中的至少一种。
3.如权利要求2所述的项目缺陷统计方法，其特征在于，所述有效缺陷信息包括：缺陷有效率和/或有效缺陷数。
4.如权利要求2所述的项目缺陷统计方法，其特征在于，所述缺陷类型信息包括：中断缺陷占比、低级缺陷占比以及再次修复缺陷占比中的至少一种。
5.如权利要求2所述的项目缺陷统计方法，其特征在于，所述缺...
【技术特征摘要】
1.一种项目缺陷统计方法，其特征在于，所述项目缺陷统计方法包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的项目缺陷统计方法，其特征在于，所述项目缺陷包括：有效缺陷信息、缺陷类型信息、缺陷修复信息、缺陷分布信息以及缺陷燃尽图中的至少一种。
3.如权利要求2所述的项目缺陷统计方法，其特征在于，所述有效缺陷信息包括：缺陷有效率和/或有效缺陷数。
4.如权利要求2所述的项目缺陷统计方法，其特征在于，所述缺陷类型信息包括：中断缺陷占比、低级缺陷占比以及再次修复缺陷占比中的至少一种。
5.如权利要求2所述的项目缺陷统计方法，其特征在于，所述缺陷修复信息包括：缺陷修复率、缺陷日清率、缺陷平均修复时长以及缺陷修复情况中的至少一种。
6.如权利要求2所述的项目缺陷统计方法，其特征在于，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄威，高圣庆，刘建新，高霞飞，
申请(专利权)人：北京奇虎科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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