芯片测试方法、系统、设备及存储介质技术方案

本申请适用于芯片技术领域，提供了一种芯片测试方法、系统、设备及存储介质，该方法包括：包括芯片和测试机，测试机通过预设资源通道传输对应的预设电平信号给测试引脚，测试引脚与预设资源通道短接，测试引脚为单个一次性可编程引脚，预设资源通道包括：第一资源通道、第二资源通道和第三资源通道，测试引脚将预设电平信号传输给控制器；控制器根据预设电平信号在地址寄存器中查找待测试内存单元的内存地址，并将数据寄存器中保存的测试数据写入待测试内存单元。该方案通过使用一个引脚接收测试机中三个不同的资源通道中传输的高低不一的电平信号，有效地减少了测试引脚的数量，优化了芯片测试过程。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及芯片，尤其涉及一种芯片测试方法、系统、设备及存储介质。

技术介绍

1、随着芯片相关技术的飞速发展，芯片使用的通讯方式也在不断增加，有常规半双工的i2c协议、全双工的spi协议，或者是某一芯片厂家的专用通讯协议等等。

2、为了保证芯片的质量，防止存在功能缺陷的芯片流入市场，通常需要在芯片正式投入使用之前利用测试仪连接芯片的测试引脚进行芯片测试。在芯片测试中，不同的通讯协议用到的芯片引脚的数量不同，例如i2c协议使用芯片的两个引脚、spi协议使用芯片的4个引脚。

3、在相关方案中，为了满足芯片测试的需求，通常会选择在芯片上设置多个引脚，但是此种方式会导致芯片的引脚过多，造成芯片体积较大，对芯片的小型化造成了阻碍。

技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种芯片测试方法、系统、设备及存储介质，可以解决如何利用更少的芯片引脚来进行芯片测试的技术问题。

2、第一方面，本申请实施例提供了一种芯片测试方法，包括芯片和测试机，芯片与测试机相连，芯片包括：测试引脚、控制器、地址寄存器本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括芯片和测试机，所述芯片与所述测试机相连，所述芯片包括：测试引脚、控制器、地址寄存器和数据寄存器，其中，

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试机通过所述预设资源通道传输对应的预设电平信号给所述测试引脚，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试机通过所述预设资源通道传输对应的预设电平信号给所述测试引脚，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试机通过所述预设资源通道传输对应的预设电平信号给所述测试引脚，包括：

5.根据权利要求2-4中任一项所述的方法，其特征在...

【技术特征摘要】

1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括芯片和测试机，所述芯片与所述测试机相连，所述芯片包括：测试引脚、控制器、地址寄存器和数据寄存器，其中，

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试机通过所述预设资源通道传输对应的预设电平信号给所述测试引脚，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试机通过所述预设资源通道传输对应的预设电平信号给所述测试引脚，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试机通过所述预设资源通道传输对应的预设电平信号给所述测试引脚，包括：

5.根据权利要求2-4中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

6.一种芯片测试系统，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈志祥，孔晓琳，王健，云星，
申请(专利权)人：珠海芯试界半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：