【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学测量，具体地涉及一种用于水冷磁体的光学测量样品杆。
技术介绍
1、水冷磁体作为国家大科学装置之一，可以提供远超一般超导磁体的强磁场和极低温的特殊实验条件。在此实验条件下，实时观测样品的行为对物理、化学、生物等课题都具有相当重要的研究意义。然而，由于水冷磁体构造的特殊性，杜瓦样品腔是一个直径只有30mm的细长空心圆柱体且样品距样品腔顶端超过了1.5m，再加上实验时氦气流影响，导致实时观测样品变得非常困难。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供一种用于水冷磁体的光学测量样品杆，解决了难以在水冷磁体的条件下实时观测样品的问题。
2、为了实现上述目的，本专利技术一方面提供一种用于水冷磁体的光学测量样品杆，所述样品杆包括：
3、样品台，用于放置待测样品；
4、光路通管，所述光路通管的一端与所述样品台连接，所述光路通管的内部设置有多根光纤，所述光纤均布于所述光路通管的内壁，且在所述光路通管的内部形成主光路，所述光纤的一端用于通过所述样品台向所述待...
【技术保护点】
1.一种用于水冷磁体的光学测量样品杆，其特征在于，所述样品杆包括：
2.根据权利要求1所述的样品杆，其特征在于，所述样品杆包括：
3.根据权利要求2所述的样品杆，其特征在于，所述起偏器底座的中央设置有通孔，所述通孔的周围设置有光纤孔，所述光纤孔靠近所述样品台的一端朝向所述通孔的中心，所述光纤孔远离所述样品台的一端朝向所述光路通管的外壁。
4.根据权利要求1所述的样品杆，其特征在于，所述样品台包括：
5.根据权利要求1所述的样品杆，其特征在于，所述光路通管内设置有相互耦合的两个透镜组，其中的一个所述透镜组设置于所述光路通管...
【技术特征摘要】
1.一种用于水冷磁体的光学测量样品杆，其特征在于，所述样品杆包括：
2.根据权利要求1所述的样品杆，其特征在于，所述样品杆包括：
3.根据权利要求2所述的样品杆，其特征在于，所述起偏器底座的中央设置有通孔，所述通孔的周围设置有光纤孔，所述光纤孔靠近所述样品台的一端朝向所述通孔的中心，所述光纤孔远离所述样品台的一端朝向所述光路通管的外壁。
4.根据权利要求1所述的样品杆，其特征在于，所述样品台包括：
5.根据权利要求1所述的样品杆，其特征在于，所述光路通管内设置有相互耦合的两个透镜组，其中的一个所述透镜组设置于所述光路通管靠近所述样品台的一端，另一个所述透镜组设置于所述光路通管靠近所述显微镜位移台的一端。
6.根据权利要求5所述的样品杆，其特征在于，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：王钊胜，张敏杰，吴嘉挺，史可，韩永琦，
申请(专利权)人：中国科学院合肥物质科学研究院，
类型：发明
国别省市：
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