【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测量仪，具体涉及一种测量仪控制方法、系统、设备及介质。
技术介绍
1、随着科学技术的发展，电子设备功能越来越强大，电子信号越来越复杂多变，电子设备出厂前都需要通过测量仪对电子设备进行性能测试，为提高测试效率，程控测试方法应运而生，即利用计算机对测量仪器和被测电子设备进行控制、测量和输出测量结果。
2、测量仪在进行程控测试时，每台仪器都需要一条程控电缆进行连接，当测试复杂，需要的测量仪器增多时，若同时打开所有的测量仪会容易出现供电不足或者瞬时电压过大损坏设备的情况。
技术实现思路
1、针对现有技术中的缺陷，本专利技术提供一种测量仪控制方法、系统、设备及介质，解决了现有技术同时打开所有的测量仪容易出现供电不足或者瞬时电压过大损坏设备的问题。
2、第一方面，提供一种测量仪控制方法，包括：
3、获取测试项目数据；其中，所述测试项目数据包括每个测试项目所需的测量仪标识和测试逻辑关系；
4、根据所述测试逻辑关系确定第一测试子序列，根据所述第...
【技术保护点】
1.一种测量仪控制方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种测量仪控制方法，其特征在于，所述测试逻辑关系通过测试逻辑路径图表示，所述测试逻辑路径图中包括多个相互独立的测试逻辑路径。
3.根据权利要求2所述的一种测量仪控制方法，其特征在于，根据所述测试逻辑关系确定第一测试子序列，包括：
4.根据权利要求3所述的一种测量仪控制方法，其特征在于，根据所述第一测试子序列中最后一个测试项目所需的测量仪标识量和测试时长构建第二测试子序列，包括：
5.根据权利要求4所述的一种测量仪控制方法，其特征在于，按照所述第一测试序列...
【技术特征摘要】
1.一种测量仪控制方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种测量仪控制方法，其特征在于，所述测试逻辑关系通过测试逻辑路径图表示，所述测试逻辑路径图中包括多个相互独立的测试逻辑路径。
3.根据权利要求2所述的一种测量仪控制方法，其特征在于，根据所述测试逻辑关系确定第一测试子序列，包括：
4.根据权利要求3所述的一种测量仪控制方法，其特征在于，根据所述第一测试子序列中最后一个测试项目所需的测量仪标识量和测试时长构建第二测试子序列，包括：
5.根据权利要求4所述的一种测量仪控制方法，其特征在于，按照所述第一测试序列控制各个测量仪进行第一性能测试，之后还包括：
6.根据权利要求5所述的一种测量仪控制方法，其特征在于，按照所述第一测试序列控...
【专利技术属性】
技术研发人员：崔启明，
申请(专利权)人：无锡都信测量技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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