一种基于动态回旋加速器中心区结构的束流测量方法技术

技术编号:41573136 阅读:25 留言:0更新日期:2024-06-06 23:52
本发明专利技术公开了一种基于动态回旋加速器中心区结构的束流测量方法:包括以下步骤:动态安装第一中心区结构,测量第一束流狭缝位置处从小半径到大半径的束流分布;动态安装第二中心区结构,测量第二束流狭缝位置处从小半径到大半径的束流分布;动态安装第三中心区结构,测量第三束流狭缝位置处从小半径到大半径的束流分布;动态安装第四中心区结构,测量第四束流狭缝位置处从小半径到大半径的束流分布;本发明专利技术通过随机安装和随机拆除束流狭缝板,解决了中心区束流测试的周向遮挡和径向遮挡问题,完成了测量中心区各个设定位置处从小半径到大半径束流测试任务,解决了本领域长期以来无法测量中心区束流强度分布的难题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于回旋加速器,尤其涉及一种基于动态回旋加速器中心区结构的束流测量方法


技术介绍

1、在回旋加速器中,中心区是指粒子从静止(内部离子源情况)或低能(外部离子源情况)到一定高能量的加速过程的过渡区域、覆盖了束流在加速器中运动的前几圈。

2、因为中心区结构复杂且束流运动不稳定,使得中心区的束流损失率较高。在回旋加速器的调试过程中,受到加工、安装误差等非理想因素影响,中心区的束流损失率经常高于设计值,部分回旋加速器在最初的束流调试中甚至会出现束流全部损失在中心区的情况。

3、现有技术测试中心区束流的方法是:把中心区作为一个整体看待去测试束流,当把中心区作为一个整体看待去测试束流时,测量装置或测量位置一般放在中心区的出口,例如,常规方法在中心区以外的中心区出口处安装内靶,用内靶测量束流。

4、把中心区作为一个整体看待去测试束流的问题在于,只能测量中心区整体上的束流强弱,但不能测量中心区局部的束流强弱情况,也就是不能测量束流在中心区内部的分布情况,不能测量分布情况,就不能判断问题出现在中心区的哪一个部位。不能判断问题出本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于动态回旋加速器中心区结构的束流测量方法:所述的动态中心区结构是在初始中心区结构的基础上,按照束流测量的步骤动态安装各个中心区电极柱、以及动态安装各个束流狭缝;该基础中心区结构包括:固装在加速器中心区的用于注入离子的离子源下支撑体;180度对称固装在离子源下支撑体上的用于加速器粒子的第一高频腔、第二高频腔;固装在中心区外侧的用于测试束流强度的内靶;

2.根据权利要求1所述一种基于动态回旋加速器中心区结构的束流测量方法:其特征在于,所述步骤一的动态安装第一中心区结构,测量第一束流狭缝位置处从小半径到大半径的束流分布,具体过程如下:

3.根据权利要求1所述一...

【技术特征摘要】

1.一种基于动态回旋加速器中心区结构的束流测量方法:所述的动态中心区结构是在初始中心区结构的基础上,按照束流测量的步骤动态安装各个中心区电极柱、以及动态安装各个束流狭缝;该基础中心区结构包括:固装在加速器中心区的用于注入离子的离子源下支撑体;180度对称固装在离子源下支撑体上的用于加速器粒子的第一高频腔、第二高频腔;固装在中心区外侧的用于测试束流强度的内靶;

2.根据权利要求1所述一种基于动态回旋加速器中心区结构的束流测量方法:其特征在于,所述步骤一的动态安装第一中心区结构,测量第一束流狭缝位置处从小半径到大半径的束流分布,具体过程如下:

3.根据权利要求1所述一种基于动态回旋加速器中心区结构的束流测量方法:其特征在于,所述步骤二的动态安装第二中心区结构,测量第二束流狭缝位置处从小半径到大半径的束流分布,具体过程如下:

4.根据权利要求1所述一种基于动态回旋加速器中心区结构的束流测量方法:其特征在于,所述步骤三的动态安装第三中心区结构,测量第三束流狭缝位置处从小半径到大半径的束流分布,具体过程如下:

5.根据权利要求1所述一种基于动态回旋加速器中心...

【专利技术属性】
技术研发人员:冀鲁豫管锋平安世忠魏素敏郑侠温立鹏
申请(专利权)人:中国原子能科学研究院
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1