The invention provides a I = 2 C bus test system, including test unit, electrical signal timing control unit, control unit and I = 2 C devices; the invention also provides a method to verify the I = 2 C bus comprises the following steps: step S1. transmits electrical adjustmentseveral; step S2. electrical timing control unit receives the electrical parameters, electrical performance parameters adjustment of I = 2 C bus, I = 2 C bus timing signal; step S3. signal control unit to adjust I = 2 C bus timing signal, communicate with I = 2 C devices; step the S4. transmits a register read and write command validation I = 2 C devices register read and write is correct, if correct, after verification; if correct, return the steps S1, continue to verify. The invention can effectively verify the I = 2 C bus electrical and timing performance, so as to provide an important basis for performance after I = 2 C bus design promotion.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及微电子通信控制领域，特别涉及一种fc总线验证系统及方法。
技术介绍
I2C (Inter Integrated Circuit BUS ，内部集成电路总线)总线接口作为一 种连接方便，架构简单易用的通讯接口，目前在集成电路IC设计中被广泛应 用。fC总线通过SDA (串行数据线)和SCL (串行时钟线)两根线，在连接 到I2C总线上的器件之间传送信息，并根据地址识别每个器件。在IC集成电路设计中，由于fc总线上信息的传送受fc总线规范的约束， 而且fC器件的工作状态也受应用电路状态的影响，所以在fc器件设计前或设 计后，都必须对fC总线的电气性能和时序进行验证及测试，以确定此集成电 路IC的设计符合I力总线规范。针对这种验证及测试，现有技术中大多数都是通过MCU的I/0 口模拟fC 总线对IC器件的^C总线进行读写操作，以测试IC器件的fC总线是否能正常工 作。但这种技术只能对IC器件^C总线的读写功能进行测试，不能验证其^C总 线的电气性能和时序的改变对lt总线的影响，因此不利于fc总线设计性能的 提升。
技术实现思路
本专利技术的目的之一是提供一种...
【技术保护点】
一种Ｉ↑［２］Ｃ总线验证系统，其特征在于，包括： 测试单元，发送电气调节参数以验证Ｉ↑［２］Ｃ器件的寄存器读写是否正确； 电气时序控制单元，分别与测试单元和Ｉ↑［２］Ｃ器件电连接，接收电气调节参数，调整Ｉ↑［２］Ｃ总线的电气性能 参数，产生Ｉ↑［２］Ｃ总线时序信号； 信号控制单元，分别与电气时序控制单元和Ｉ↑［２］Ｃ器件电连接，调整Ｉ↑［２］Ｃ总线时序信号，并对Ｉ↑［２］Ｃ器件的寄存器进行读写。
【技术特征摘要】
1.一种I2C总线验证系统，其特征在于，包括测试单元，发送电气调节参数以验证I2C器件的寄存器读写是否正确；电气时序控制单元，分别与测试单元和I2C器件电连接，接收电气调节参数，调整I2C总线的电气性能参数，产生I2C总线时序信号；信号控制单元，分别与电气时序控制单元和I2C器件电连接，调整I2C总线时序信号，并对I2C器件的寄存器进行读写。2. 根据权利要求1所述的PC总线验证系统，其特征在于 所述测试单元包括逻辑电阻调节模块和PC寄存器读写模块，所述逻辑电阻调节模块与电气时序控制单元连接，发送阻值调节参数以调节fC总线上 的电阻；所述fC寄存器读写模块与电气时序控制单元连接，发送寄存器读写 命令以验证fC器件的寄存器读写是否正确。3. 根据权利要求1所述的^C总线验证系统，其特征在于所述测试单元包括逻辑电平调节模块和^C寄存器读写模块，所述逻辑 电平调节模块与电气时序控制单元连接，发送阻值调节参数以调节fc总线上 的电平；所述fC寄存器读写模块与电气时序控制单元连接，发送寄存器读写 命令以验证fC器件的寄存器读写是否正确。4. 根据权利要求1所述的^C总线验证系统，其特征在于 所述测试单元包括逻辑电容调节模块和^C寄存器读写模块；所述逻辑电容调节模块与电气时序控制单元连接，发送电容调节参数以调节fc总线上 的电容；所述fC寄存器读写^f莫块与电气时序控制单元连接，发送寄存器读写 命令以验证fC器件的寄存器读写是否正确。5. 根据权利要求2所述的I2C总线验证系统，其特征在于 所述测试单元还包括逻辑电平调节模块，所述逻辑电平调节模块与电气时序控制单元连接，发送阻值调节参数以调节12C总线上的电平。6. 根据权利要求2所述的I2C总线验证系统，其特征在于所述测试单元还包括逻辑电容调节模块，所述逻辑电容调节模块与电气 时序控制单元连接，发送电容调节参数以调节I2C总线上的电容。7. 根据权利要求1所述的fC总线验证系统，其特征在于所述测试单元包括与电气时序控制单元连接的逻辑电阻调节模块、逻辑 电平调节模块、逻辑电容调节模块和/或fC寄存器读写模块；所述逻辑电阻调节模块用于发送阻值调节参数以调节12 C总线上的电阻；所述逻辑电平调节模块用于发送阻值调节参数以调节fc总线上的电平；所述逻辑电容调节模块用于发送电容调节参数以调节fC总线上的电谷，所述fc寄存器读写模块用于发送寄存器读写命令以验证fc器件的寄存 器读写是否正确。8. 根据权利要求l至7...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈法军，余志龙，张圳，张翔，
申请(专利权)人：比亚迪股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
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