【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于检查前照灯的光源的质量的方法，其中，所述光源具有能单独操控的光像素的阵列。此外本专利技术涉及一种用于这样的检查方法的测试装置。
技术介绍
1、由de 10 2021 108 176 a1已知一种用于检查光源的质量的方法，其中，依次接通不同的光像素或led并且同时测量在相应的led上的正向电压。如果测量的正向电压处于正向电压的预定的范围之外，则相应的led分类为有缺陷的。因此已知的方法借助电气测量来标识有缺陷的和没有缺陷的led。
2、由de 10 2014 015 796 b4已知一种用于检查前照灯的质量的方法，其中，基于在道路空间中的通过前照灯成像的光分布，关于亮度和颜色确定前照灯的特性。在这里这样操控前照灯的发光的光像素，使得在车辆前区上成像出对应于测试图案的光分布。该测试图案借助光学检测单元来探测并且与预定的存储的参考图案相比较。借助光分布在分析单元中确定，给出或未给出前照灯的功能性。已知的方法的不利之处在于，前照灯的光学的光导器件被一起纳入到测量结果中。
技术实现思路
【技术保护点】
1.用于检查前照灯的光源(2)的质量的方法，其中，所述光源(2)具有能单独操控的光像素(5、5‘、5“)的阵列，其特征在于，
2.按照权利要求1所述的方法，其特征在于，通过接通不同的光像素(5、5‘、5“)依次产生和探测多个测试图案(T1、T2…Tt)，其中，所述测试图案(T1、T2…Tt)的接通的光像素(5、5‘、5“)被预定数量的断开的光像素(5、5‘、5“)包围。
3.按照权利要求1或2所述的方法，其特征在于，通过顺序地接通预定的组的光像素(5、5‘、5“)中的各个光像素(5、5‘、5“)产生所述测试图案(T1、T2…Tt)，其中，分别顺...
【技术特征摘要】
1.用于检查前照灯的光源(2)的质量的方法，其中，所述光源(2)具有能单独操控的光像素(5、5‘、5“)的阵列，其特征在于，
2.按照权利要求1所述的方法，其特征在于，通过接通不同的光像素(5、5‘、5“)依次产生和探测多个测试图案(t1、t2…tt)，其中，所述测试图案(t1、t2…tt)的接通的光像素(5、5‘、5“)被预定数量的断开的光像素(5、5‘、5“)包围。
3.按照权利要求1或2所述的方法，其特征在于，通过顺序地接通预定的组的光像素(5、5‘、5“)中的各个光像素(5、5‘、5“)产生所述测试图案(t1、t2…tt)，其中，分别顺序地接通同一组光像素(5、5‘、5“)中的所有光像素(5、5‘、5“)一次，同时断开同一组光像素(5、5‘、5“)中的其他光像素(5、5‘、5“)，并且分别借助所述光学检测单元(6)探测顺序产生的测试图案(t1、t2…tt)。
4.按照权利要求1至3之一所述的方法，其特征在于，按照所述测试规定(16)通过顺序地接通预定的组的光像素(5、5‘、5“)中的各个光像素(5、5‘、5“)产生所述测试图案(t1、t2…tt)，其中，所述预定的组的光像素(5、5‘、5“)包含在光像素场(l1、l2…ll)中，所述光像素场分别由包括相同数量的行和列的方形的阵列组成。
5.按照权利要求1至4之一所述的方法，其特征在于，按照所述测试规定(16)通过顺序地接通设置在所述相应的方形的光像素场(l1、l2…ll)中的光像素(5、5‘、5“)产生所述测试图案(t1、t2…tt)，其中，在所述方形的光像素场(l1、l2…ll)中，分别接通在所述方形的光像素场(l1、l2…ll)内设置在相同的位置处的光像素(5、5‘、5“)。
6.按照权利要求1至5之一所述的方法，其特征在于，
7.按照权利要求1至6之一所述的方法，其特征在于，根据所检测的测试图...
【专利技术属性】
技术研发人员：F·赫罗尔德，I·穆勒斯，W·A·奎施，D·席勒，A·施万，J·维登斯特里特，
申请(专利权)人：海拉有限双合股份公司，
类型：发明
国别省市：
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