【技术实现步骤摘要】
本技术涉及测距系统，尤其涉及一种测距装置及测距系统。
技术介绍
1、测距装置通常是利用光发射器发射第一光束，第一光束至少部分能够被探测物反射，被探测物反射的第一光束定义为第二光束，通过光感测器感测该第二光束以使得测距装置根据第二光束确定探测物的相关特征信息，比如探测物的距离、方位、姿态、速度、高度等中的至少一者。然而，相关技术中的测距装置在工作时，测距装置的部件容易对部分第一光束进行反射，由此会在测距装置内部产生杂散光，杂散光若传输至光感测器，则会干扰测距装置工作，降低测距装置的测量精度。
技术实现思路
1、本技术提供了一种测距装置及测距系统，旨在减少到达光感测器的杂散光，从而提高测距装置的测量精度。
2、本技术一实施例提供一种测距装置，包括：
3、光发射器，用于发射第一光束；
4、光感测器，用于感测第二光束，所述第二光束为所述第一光束被探测物反射后形成的光束；
5、光学元件，所述光学元件用于供所述第一光束透过，并用于反射所述第二光束以将所述...
【技术保护点】
1.一种测距装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测距装置，其特征在于，所述光学元件包括用于供所述第一光束穿过的透射区域和用于反射所述第二光束的反射区域，所述遮光件至少部分设于所述透射区域内，用于减少或消除所述第一光束入射至所述透射区域的内壁，防止在所述透射区域的内壁处产生因所述第一光束的反射而引起的杂散光。
3.根据权利要求2所述的测距装置，其特征在于，所述透射区域包括贯穿所述光学元件的透射孔，所述遮光件至少部分遮盖所述透射孔的内壁。
4.根据权利要求3所述的测距装置，其特征在于，所述遮光件形成有用于供所述第一光束穿过...
【技术特征摘要】
1.一种测距装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测距装置，其特征在于，所述光学元件包括用于供所述第一光束穿过的透射区域和用于反射所述第二光束的反射区域，所述遮光件至少部分设于所述透射区域内，用于减少或消除所述第一光束入射至所述透射区域的内壁，防止在所述透射区域的内壁处产生因所述第一光束的反射而引起的杂散光。
3.根据权利要求2所述的测距装置，其特征在于，所述透射区域包括贯穿所述光学元件的透射孔，所述遮光件至少部分遮盖所述透射孔的内壁。
4.根据权利要求3所述的测距装置，其特征在于，所述遮光件形成有用于供所述第一光束穿过的贯通孔，所述贯通孔的孔壁至少部分遮盖所述透射孔的内壁。
5.根据权利要求1所述的测距装置，其特征在于，所述遮光件包括柔性或弹性的遮光件；和/或，所述遮光件包括采用不透光材料或透光率小于预设阈值的材料制成的遮光结构。
6.根据权利要求1所述的测距装置，其特征在于，所述遮光件设于所述光学元件，且所述遮光件与所述光学元件分体设置。
7.根据权利要求1所述的测距装置，其特征在于，所述测距装置还包括：
8.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵子晗，梁震，
申请(专利权)人：深圳市闪至科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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