一种压力可调的IC测试治具制造技术

本技术公开了一种压力可调的IC测试治具，其特征在于，包括：底板；PCB板，安装于所述底板，用于测试IC；探针固定座，安装于所述底板，用于安装测试探针；测试探针，安装于所述探针固定座，一端与所述PCB板连接，另一端与所述测试IC连接；IC固定座，安装于所述底板，用于安装所述测试IC，开设有用于供所述测试探针穿过的穿孔；压合组件，安装于所述底板，包括固定框、与所述固定框铰接的下压框；所述下压框安装一用于压紧所述测试IC的滑动压块，所述滑动压块上方设有一旋转块，所述旋转块与所述下压框之间通过螺纹连接，且所述旋转块与所述滑动压块之间抵接一弹性件。本技术解决了现有的IC测试治具压力不可调导致测试结果不准确的问题。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及ic测试，尤其涉及一种压力可调的ic测试治具。

技术介绍

1、ic测试治具是一种以pcb测试底板为基础而设计的、用于测试pcb板上面的各种封装的ic芯片、电子元器件、cpu、模块核心板等集成电路的电性能通断检验测试专用夹具。现有的ic测试治具使用时，通常将待测试ic放置在对应的位置，通过测试探针与pcb板导通进行测试，为保证ic与测试探针有效接触，通常设置一压合机构将ic下压，但是，现有的压合机构的压力不可调，会导致压力不够，使芯片与测试探针接触不良，导致测试结果不准确。

技术实现思路

1、本技术的主要目的在于提供一种压力可调的ic测试治具，旨在解决现有的ic测试治具压力不可调导致测试结果不准确的问题。

2、为实现上述目的，本技术提出一种压力可调的ic测试治具，包括：

3、底板；

4、pcb板，安装于所述底板，用于测试ic；

5、探针固定座，安装于所述底板，用于安装测试探针；

6、测试探针，安装于所述探针固定座，一端与所述pcb板连接，另一本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种压力可调的IC测试治具，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的压力可调的IC测试治具，其特征在于，所述固定框和所述下压框一侧通过一转轴铰接，所述固定框和所述下压框上分别开设有用于安装所述转轴的安装孔。

3.根据权利要求1所述的压力可调的IC测试治具，其特征在于，所述弹性件设置为弹簧。

4.根据权利要求1所述的压力可调的IC测试治具，其特征在于，所述滑动压块与所述下压框之间通过一导向柱滑动连接，所述下压框上开设有用于供所述导向柱穿过的导向孔，所述导向柱端部穿过所述导向孔与所述滑动压块固定连接。

5.根据权利要求4所述的压力可调的...

【技术特征摘要】

1.一种压力可调的ic测试治具，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的压力可调的ic测试治具，其特征在于，所述固定框和所述下压框一侧通过一转轴铰接，所述固定框和所述下压框上分别开设有用于安装所述转轴的安装孔。

3.根据权利要求1所述的压力可调的ic测试治具，其特征在于，所述弹性件设置为弹簧。

4.根据权利要求1所述的压力可调的ic测试治具，其特征在于，所述滑动压块与所述下压框之间通过一导向柱滑动连接，所述下压框上开设有用于供所述导向柱穿过的导向孔，所述导向柱端部穿过所述导向孔与所述滑动压块固定连接。

5.根据权利要求4所述的压力可调的ic测试治具，其特征在于，所述滑动压块呈矩形体结构设置，所述导向柱的数量设置为四个，且四个所述导向柱分别与所述滑动压块的四个端角处螺纹连接。

6.根据权利要求1所述的压力可调的ic测试治具，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：周琴，张艺，
申请(专利权)人：深圳亚力盛连接器有限公司，
类型：新型
国别省市：