基于多标签分类的缺陷检测方法、系统、设备及存储介质技术方案

技术编号:41535688 阅读:35 留言:0更新日期:2024-06-03 23:13
基于多标签分类的缺陷检测方法、系统、设备及存储介质,涉及缺陷检测技术领域。缺陷检测方法包括如下步骤:获取待检测图片;建立与待检测图片对应的数据集合,所述数据集合的子集数量与缺陷标签数量一致,且数据集合的子集与缺陷标签一一对应;初始的数据集合中,各个子集的值均为零;向训练好的缺陷检测模型输入待检测图片,获得缺陷检测模型输出的若干缺陷标签;根据输出的缺陷标签对数据集合中对应的子集进行赋值;对当前数据集合中的子集进行求和,得到数据集合的缺陷总分;根据缺陷总分进行等级分类。实现整合所有识别出的缺陷标签进行评分分类,以便于对产品进行质量等级的分类。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及缺陷检测,特别是基于多标签分类的缺陷检测方法、系统、设备及存储介质


技术介绍

1、图像分类是计算机视觉领域中最基础的任务之一,广泛应用在缺陷检测中。针对一个工件本身具备有多种缺陷,目前出现多标签分类技术,通过向训练好的模型输入工件的待检测相片,即可输出该工件对应的若干缺陷标签,从而自动识别出工件存在的不同缺陷。但这样的检测手段仅能识别出不同的缺陷,尚未能整合识别出的缺陷进行评分分类,不便于对产品进行质量等级的分类。


技术实现思路

1、针对上述缺陷,本专利技术的目的在于提出基于多标签分类的缺陷检测方法、系统、设备及存储介质。

2、为达此目的,本专利技术第一方面公开了签分类的缺陷检测方法,包括如下步骤:

3、获取待检测图片;

4、建立与待检测图片对应的数据集合,所述数据集合的子集数量与缺陷标签数量一致,且数据集合的子集与缺陷标签一一对应;初始的数据集合中,各个子集的值均为零;

5、向训练好的缺陷检测模型输入待检测图片,获得缺陷检测模型输出的若干缺陷标本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.基于多标签分类的缺陷检测方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的基于多标签分类的缺陷检测方法,其特征在于:

3.根据权利要求1所述的基于多标签分类的缺陷检测方法,其特征在于:向训练好的缺陷检测模型输入待检测图片后包括如下步骤:

4.根据权利要求1所述的基于多标签分类的缺陷检测方法,其特征在于:在根据输出的缺陷标签对数据集合中对应的子集进行赋值后,还包括:

5.基于多标签分类的缺陷检测系统,其特征在于,应用于如权利要求1-4任一项所述的基于多标签分类的缺陷检测方法,包括:

6.根据权利要求5所述的基于多标签分...

【技术特征摘要】

1.基于多标签分类的缺陷检测方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的基于多标签分类的缺陷检测方法,其特征在于:

3.根据权利要求1所述的基于多标签分类的缺陷检测方法,其特征在于:向训练好的缺陷检测模型输入待检测图片后包括如下步骤:

4.根据权利要求1所述的基于多标签分类的缺陷检测方法,其特征在于:在根据输出的缺陷标签对数据集合中对应的子集进行赋值后,还包括:

5.基于多标签分类的缺陷检测系统,其特征在于,应用于如权利要求1-4任一项所述的基于多标签分类的缺陷检测方法,包括:

...

【专利技术属性】
技术研发人员:李程文丁犇钟宏扬邓家亮祝家东
申请(专利权)人:佛山职业技术学院
类型:发明
国别省市:

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