一种高精度微波激光链路融合测距方法技术

技术编号:41531640 阅读:29 留言:0更新日期:2024-06-03 23:08
本发明专利技术公开了一种高精度微波激光链路融合测距方法,涉及航天微波激光测控领域。本发明专利技术充分利用激光测距精度高和微波测距可用度高的优势,实现高可靠高精度融合测距。激光链路测距基于数据组帧、编码、激光器、光电探测器、自动增益控制、位同步、帧同步、解码、提取测距码、计算距离值等模块实现,微波链路测距基于上行测量数据组帧、扩频处理、BPSK调制、载波调制、自动增益控制、伪码/载波捕获、伪码/载波跟踪、位同步、下行测量帧同步、计算测距值等模块实现。融合测距处理将激光测距和微波测距结果进行加权、修正等处理,得到融合测距结果。本发明专利技术通用化较强,设计简单,实现复杂度低,便于实现与推广。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及航天微波激光测控领域,特别是指一种高精度微波激光链路融合测距方法,可适用于微波激光一体化混合测控系统高精度测距。


技术介绍

1、在航天测控领域,高精度测距技术一直是重要的研究方向。目前传统的微波测距精度能够达到米量级,随着航天测控对高精度测距需求的提升,需要进一步提高测距精度。激光测距的精度能够达到厘米量级,但激光测距易受天气影响,造成测量误差不稳定,激光测距可用度较低。微波测距精度尽管在米量级,但微波测距可用度较高,可以满足全天候使用。微波激光融合测距可以充分发挥微波、激光两者的优势,在保证高可用度的条件下,进一步提高测量精度。随着微波激光一体化混合测控技术在航天测控领域的发展,有必要对微波激光融合测距技术进行研究,解决微波激光融合测距存在的问题,促进微波激光融合测距的工程应用。


技术实现思路

1、有鉴于此,本专利技术提供一种高精度微波激光链路融合测距方法。所要解决的技术问题在于在地面微波激光混合测控装置中进行测距时,能够充分发挥微波激光两种手段的优势,利用激光测距的高精度优势和微波测距的高可本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种高精度微波激光链路融合测距方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种高精度微波激光链路融合测距方法,其特征在于,步骤(3)的具体过程为:

【技术特征摘要】

1.一种高精度微波激光链路融合测距方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:成亚勇冯晓文耿虎军田之俊张伟王臣王继伟
申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第五十四研究所
类型:发明
国别省市:

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