【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及航天微波激光测控领域,特别是指一种高精度微波激光链路融合测距方法,可适用于微波激光一体化混合测控系统高精度测距。
技术介绍
1、在航天测控领域,高精度测距技术一直是重要的研究方向。目前传统的微波测距精度能够达到米量级,随着航天测控对高精度测距需求的提升,需要进一步提高测距精度。激光测距的精度能够达到厘米量级,但激光测距易受天气影响,造成测量误差不稳定,激光测距可用度较低。微波测距精度尽管在米量级,但微波测距可用度较高,可以满足全天候使用。微波激光融合测距可以充分发挥微波、激光两者的优势,在保证高可用度的条件下,进一步提高测量精度。随着微波激光一体化混合测控技术在航天测控领域的发展,有必要对微波激光融合测距技术进行研究,解决微波激光融合测距存在的问题,促进微波激光融合测距的工程应用。
技术实现思路
1、有鉴于此,本专利技术提供一种高精度微波激光链路融合测距方法。所要解决的技术问题在于在地面微波激光混合测控装置中进行测距时,能够充分发挥微波激光两种手段的优势,利用激光测距的高精度
...【技术保护点】
1.一种高精度微波激光链路融合测距方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的一种高精度微波激光链路融合测距方法,其特征在于,步骤(3)的具体过程为:
【技术特征摘要】
1.一种高精度微波激光链路融合测距方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据...
【专利技术属性】
技术研发人员:成亚勇,冯晓文,耿虎军,田之俊,张伟,王臣,王继伟,
申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第五十四研究所,
类型:发明
国别省市:
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