一种基于正交标架的双引导线扫掠曲面建模方法技术

技术编号:41529530 阅读:17 留言:0更新日期:2024-06-03 23:05
本发明专利技术公开了一种基于正交标架的双引导线扫掠曲面建模方法,涉及计算机三维建模技术领域,在两条引导线上分别找出对应的最近点和拐点;对两条引导线进行两种分段,第一种分段是根据两条引导线上的拐点进行分段,第二种分段是根据两条引导线上的拐点以及最近点进行分段;针对第二种分段下的引导线段组,在引导线段组中的两个引导线段上分别选取对应的采样点,构成采样点组;在每个采样点组中的两个采样点处分别构造正交标架;根据轮廓线和正交标架在各个采样点组处构造截面线;针对第一种分段下的引导线段组,利用各个采样点组处的截面线进行放样,得到最终的扫掠曲面。本发明专利技术提供了一种双引导线扫掠的曲面建模方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及计算机三维建模,尤其是一种基于正交标架的双引导线扫掠曲面建模方法


技术介绍

1、扫掠是一种沿引导路径构建三维模型的方法。扫掠的输入由两部分组成,其一为轮廓线;其二为路径线即引导线。轮廓线沿引导线移动所经过的曲面即为扫掠曲面,多条轮廓可以使得扫掠曲面在不同的段具有不同的形状。

2、自由曲面建模是现代工业计算机辅助设计的重要组成部分,在飞机、船舶、汽车等行业有着及其广泛与深入的应用。扫掠在自由曲面建模中是非常核心的技术,设计人员在建模过程中会大量使用这一功能。

3、现有技术中所公开的几乎都是单轨扫掠的建模方法,对于双引导线扫掠没有提及,然而,双引导线扫掠能够更好的对形态进行定义。


技术实现思路

1、为了克服上述现有技术中的缺陷,本专利技术提供一种基于正交标架的双引导线扫掠曲面建模方法,支持一条或多条包含拐点和直线段的轮廓线,支持包含拐点和直线段的引导线,建模精度高。

2、为实现上述目的,本专利技术采用以下技术方案,包括:

3、一种基于正交标架的双引导本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于正交标架的双引导线扫掠曲面建模方法,其特征在于,根据两条引导线和若干条轮廓线得到扫掠曲面,具体包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种基于正交标架的双引导线扫掠曲面建模方法,其特征在于,步骤S5中,若平行直线组上有1条轮廓线,则将该平行直线组上的轮廓线投影至平行直线组的端点处;若平行直线组上有多条轮廓线,则将距离端点处最近的轮廓线投影至端点处;

3.根据权利要求1所述的一种基于正交标架的双引导线扫掠曲面建模方法,其特征在于,步骤S6中,采样点选取的具体方式如下:

4.根据权利要求3所述的一种基于正交标架的双引导线扫掠曲面建模方法,其特征...

【技术特征摘要】

1.一种基于正交标架的双引导线扫掠曲面建模方法,其特征在于,根据两条引导线和若干条轮廓线得到扫掠曲面,具体包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种基于正交标架的双引导线扫掠曲面建模方法,其特征在于,步骤s5中,若平行直线组上有1条轮廓线,则将该平行直线组上的轮廓线投影至平行直线组的端点处;若平行直线组上有多条轮廓线,则将距离端点处最近的轮廓线投影至端点处;

3.根据权利要求1所述的一种基于正交标架的双引导线扫掠曲面建模方法,其特征在于,步骤s6中,采样点选取的具体方式如下:

4.根据权利要求3所述的一种基于正交标架的双引导线扫掠曲面建模方法,其特征在于,对引导线段中弧长大于引导线总弧长a%的部分进行内部采样,具体方式如下:

5.根据权利要求1所述的一种基于正交标架的双引导线扫掠曲面建模方法,其特征在于,步骤s7的具体方式如下:

6.根据权利要求5所述的一种基于正交标架的双引导线扫掠曲面建模方法,其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙钊郑裕峰
申请(专利权)人:合肥九韶智能科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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