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CT成像方法、装置和光子计数能谱CT成像系统制造方法及图纸

技术编号:41514774 阅读:18 留言:0更新日期:2024-05-30 14:52
本申请涉及一种CT成像方法、装置和光子计数能谱CT成像系统。所述方法包括:获取对目标部位进行CT成像的目标扫描协议;确定所述目标扫描协议对应的目标扫描参数;所述目标扫描参数包括CT成像设备上的目标探测区域;控制所述CT成像设备根据所述目标扫描协议,通过所述目标探测区域对所述目标部位进行CT成像。采用本方法能够提高光子计数能谱CT的成像质量。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及ct成像,特别是涉及一种ct成像方法、装置和光子计数能谱ct成像系统。


技术介绍

1、随着ct技术的发展,出现了基于光子计数探测器的能谱ct,能够同时提供多个能量阈值的ct数据进行多能量成像,在此基础上可以进行物质分解得到有效原子序数图,进而可以对物质进行化学成份分析,相较以前的常规ct,能谱ct具有更低辐射剂量、更低噪声、定量分析等优势,在科研应用上具有重要研究意义。

2、目前,光子计数能谱ct成像设备可以支持步进扫描、轴向扫描和螺旋扫描,由于有些科研扫描协议需要较长的扫描范围,光子计数探测器在连续采集数据时间非常长的场景下,容易出现极化效应,导致光子计数探测器采数响应不稳定,进而影响成像质量。


技术实现思路

1、基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够提高成像质量的ct成像方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质、计算机程序产品和光子计数能谱ct成像系统。

2、第一方面,本申请提供了一种ct成像方法。所述方法包括:

3、获取对目标部位进行ct成像的目标扫本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种CT成像方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在获取对目标部位进行CT成像的目标扫描协议之前,还包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述候选控制信息中包含与所述目标扫描协议相对应的目标控制信息;所述控制所述CT成像设备根据所述目标扫描协议,通过所述目标探测区域对所述目标部位进行CT成像,包括:

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述确定所述目标扫描协议对应的目标扫描参数,包括:

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述确定所述目标扫描协议对应的目标扫描参数,还包括:<...

【技术特征摘要】

1.一种ct成像方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在获取对目标部位进行ct成像的目标扫描协议之前,还包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述候选控制信息中包含与所述目标扫描协议相对应的目标控制信息;所述控制所述ct成像设备根据所述目标扫描协议,通过所述目标探测区域对所述目标部位进行ct成像,包括:

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述确定所述目标扫描协议对应的目标扫描参数,包括:

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述确定所述目标扫描协议对应的目标扫描参数,还包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述目标扫描参数还包括所述ct成像设备的目标扫描时刻...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘谦许文挺艾明
申请(专利权)人:海南大学
类型:发明
国别省市:

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