【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及空间阵列干涉光学成像装置，具体涉及一种合并光路干涉成像实验装置及图像重建方法。
技术介绍
1、光子集成阵列干涉成像技术是一种结合光学干涉成像原理和光子集成技术的新型高集成度探测技术，该技术利用光子集成芯片代替传统成像中的传感器，显著降低了成像系统的体积、重量、功耗。目前该技术还处于理论研究阶段，成像系统并未投入实际的工程应用。
2、目前在光子集成阵列干涉成像方面有诸多理论研究，然而这些理论研究大多止步于仿真，未能做进一步的成像实验验证。2013年，kendrick等人在kendrick,r.,duncan,a.,wilm,j.et al.flat panel space based space surveillance sensor[c].in advancedmaui optical&space surveillance technologies conference.2013.中使用光纤器件搭建了一条长基线来取得目标的空间频率，首次验证了单频采样的可能性。然而实际的成像系统中往往有几十上百条的基线，...
【技术保护点】
1.一种合并光路干涉成像实验装置，其特征在于：包括依次安装并位于同一光轴的激光器(1)、激光准直器(2)、靶标(3)和光纤准直器阵列，以及2N个光开关(5)、两个光纤合束器(6)、光纤耦合器组(7)、四个光探测器(8)和控制器(9)，其中，N为大于等于2的整数；
2.根据权利要求1所述的一种合并光路干涉成像实验装置，其特征在于：所述光纤耦合器组(7)包括两个1×2光纤耦合器和一个2×2光纤耦合器；
3.根据权利要求1或2所述的一种合并光路干涉成像实验装置，其特征在于：所述光纤准直器组件(4)包括调节机构和安装在调节机构上的光纤准直器；
<...【技术特征摘要】
1.一种合并光路干涉成像实验装置，其特征在于：包括依次安装并位于同一光轴的激光器(1)、激光准直器(2)、靶标(3)和光纤准直器阵列，以及2n个光开关(5)、两个光纤合束器(6)、光纤耦合器组(7)、四个光探测器(8)和控制器(9)，其中，n为大于等于2的整数；
2.根据权利要求1所述的一种合并光路干涉成像实验装置，其特征在于：所述光纤耦合器组(7)包括两个1×2光纤耦合器和一个2×2光纤耦合器；
3.根据权利要求1或2所述的一种合并光路干涉成像实验装置，其特征在于：所述光纤准直器组件(4)包括调节机构和安装在调节机构上的光纤准直器；
4.根据权利要求3所述的一种合并光路干涉成像实验装置，其特征在于：所述光探测器(8)为光功率计，光功率计包括功率探头和功率能量计表头；
5.根据权利要求4所述的一种合并光路干涉成像实验装置，其特征在于：还包括光学隔震平台，所述激光准直器(2)、靶标(3)、...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘罡，杨明洋，贺天兵，范文慧，汶德胜，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：
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