频率特性测定装置以及频率特性测定方法制造方法及图纸

高精度地测定频率特性。频率特性测定装置(10)具备第一输出部(11)、频率特性计算部(13)、谐振频率计算部(14)和第二输出部(12)。频率特性计算部(13)基于来自第一输出部(11)的第一频率范围的第一激励信号和从被输入了第一激励信号的伺服系统(20)取得的第一状态信号来计算伺服系统(20)的第一频率特性。谐振频率计算部(14)基于第一频率特性计算伺服系统(20)的谐振频率或者反谐振频率。第二输出部(12)输出包括谐振频率或者反谐振频率在内的第二频率范围的第二激励信号。频率特性计算部(13)基于第二激励信号和从被输入了第二激励信号的伺服系统(20)取得的第二状态信号来计算伺服系统(20)的第二频率特性。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本公开涉及测定伺服系统的频率特性频率特性测定装置。

技术介绍

1、以往，公知测定伺服系统的频率特性的技术(例如，参照专利文献1)。

2、在先技术文献

3、专利文献

4、专利文献1：日本特开2019-91141号公报

技术实现思路

1、期待高精度地测定伺服系统的频率特性。

2、因而，本公开的目的在于，提供一种能够得到伺服系统的高精度的频率特性的频率特性测定装置等。

3、本公开的一方式所涉及的频率特性测定装置具备第一输出部、频率特性计算部、谐振频率计算部和第二输出部。所述第一输出部输出第一频率范围的第一激励信号。所述频率特性计算部基于所述第一激励信号和从被输入了所述第一激励信号的伺服系统取得的表示所述伺服系统的状态量的第一状态信号，计算所述第一频率范围中的所述伺服系统的第一频率特性。所述谐振频率计算部基于所述第一频率特性，计算所述伺服系统的谐振频率与反谐振频率的至少一方。所述第二输出部输出包括通过所述谐振频率计算部算出的谐振频率与反谐振频率的至少一方在内本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种频率特性测定装置，具备：

2.根据权利要求1所述的频率特性测定装置，其中，

3.根据权利要求1或2所述的频率特性测定装置，其中，

4.根据权利要求1～3中任一项所述的频率特性测定装置，其中，

5.根据权利要求1～4中任一项所述的频率特性测定装置，其中，

6.根据权利要求1～5中任一项所述的频率特性测定装置，其中，

7.根据权利要求1～6中任一项所述的频率特性测定装置，其中，

8.根据权利要求1～7中任一项所述的频率特性测定装置，其中，

9.一种频率特性测定方法，包括：

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种频率特性测定装置，具备：

2.根据权利要求1所述的频率特性测定装置，其中，

3.根据权利要求1或2所述的频率特性测定装置，其中，

4.根据权利要求1～3中任一项所述的频率特性测定装置，其中，

5.根据权利要求1～4中任一项所述的频率...

【专利技术属性】
技术研发人员：白木佑汰，藤原弘，田泽徹，
申请(专利权)人：松下知识产权经营株式会社，
类型：发明
国别省市：