【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于金属提纯,尤其涉及一种杂质合金化区域熔炼制备高纯锗的方法。
技术介绍
1、锗是一种重要半导体材料,具有极高的载流子迁移率和优异的红外光学特性等性能,被广泛应用在半导体、红外光学、军工、医疗设备和核物理探测等领域。锗中杂质种类和含量对其产品性能有重要影响。多数锗产品对纯度有较高要求,在红外光学领域要求原料纯度在6n及以上,半导体领域要求锗纯度在9n及以上,而锗探测器要求锗中杂质含量低于2×1010cm-3,以避免杂质对能量分辨率等结果的影响。而锗提纯最常用的方法是区域熔炼法,通过该方法可以实现多数杂质的脱除。然而,锗中部分杂质的脱除效率较低,需要增加多次区熔才可能被除去,需要很长的处理时间,且产品率较低,这严重制约了高纯锗的制备。专利号为cn114635187b的专利采用原料腐蚀处理,减少了原料端杂质的引入,并采用了镀膜石墨舟,减少了杂质从舟体材料中引入。但上述方法仅解决了杂质污染问题,没有解决好杂质脱除效率低的问题。专利号为cn116949301a的专利提到了提纯方法中,区熔次数需要达到30次以上,区熔次数多,周期长达一个
...【技术保护点】
1.一种杂质合金化区域熔炼制备高纯锗的方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的杂质合金化区域熔炼制备高纯锗的方法,其特征在于,步骤S1中,所述待提纯锗料的表面杂质脱除的过程具体为:将待提纯锗料经破碎后,用浓硝酸和氢氟酸的混合酸浸泡、再经去离子水清洗、烘干,获得预处理后的待提纯锗料。
3.根据权利要求1所述的杂质合金化区域熔炼制备高纯锗的方法,其特征在于,步骤S1中,所述载料舟体为高纯石墨舟体,所述载料舟体的纯度为5N以上;所述载料舟体的表面杂质脱除的过程具体为:将载料舟体用王水和氢氟酸的混合酸浸泡、再经去离子水清洗、烘干,获得
...【技术特征摘要】
1.一种杂质合金化区域熔炼制备高纯锗的方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的杂质合金化区域熔炼制备高纯锗的方法,其特征在于,步骤s1中,所述待提纯锗料的表面杂质脱除的过程具体为:将待提纯锗料经破碎后,用浓硝酸和氢氟酸的混合酸浸泡、再经去离子水清洗、烘干,获得预处理后的待提纯锗料。
3.根据权利要求1所述的杂质合金化区域熔炼制备高纯锗的方法,其特征在于,步骤s1中,所述载料舟体为高纯石墨舟体,所述载料舟体的纯度为5n以上;所述载料舟体的表面杂质脱除的过程具体为:将载料舟体用王水和氢氟酸的混合酸浸泡、再经去离子水清洗、烘干,获得预处理后的载料舟体。
4.根据权利要求3所述的杂质合金化区域熔炼制备高纯锗的方法,其特征在于,步骤s2中,所述金属添加剂为铁、铜、锡、镍金属单质中的一种或多种。
5.根据权利要求1所述的杂质合金化区域熔炼制备高纯锗的方法,其特征在于,步骤s2中,所述金属添加剂的添加量占所述预处理后的待提纯锗料的质量的0.1~0...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。