激光器远场光束质量测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及激光器光斑测量技术领域，尤其涉及一种激光器远场光束质量测试装置及测试方法，包括目标靶标、激光器、四象限光电探测单元、近红外相机、数据处理单元和控制单元，激光器设于二维转台上，激光器发射的脉冲激光照射于目标靶标；四象限光电探测单元接收目标靶标上光斑漫反射的激光器回波脉冲；近红外相机对目标靶标上形成的光斑进行成像；数据处理单元连接四象限光电探测单元和近红外相机；控制单元连接数据处理单元，控制单元用于控制二维转台和控制近红外相机。通过四象限光电探测单元获取光斑位置信息，调整激光器朝向，通过四象限APD探测单元和近红外相机协同使用，可以准确地获取远场光斑的远场非饱和光斑，并对其进行质量评估。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及激光器光斑测量，尤其涉及一种激光器远场光束质量测试装置及测试方法。

技术介绍

1、激光测距机、激光雷达、激光测照器等强脉冲激光器研发过程中，需要对激光器远场光束质量进行评估，一般多使用近红外相机进行光斑成像，光斑在图像中为一个白色饱和的圆斑，通过人眼观察或图像处理获得光斑位置，从而可以对激光脉冲远场光束质量进行评估。

2、远场光束质量测试中，背景较为复杂，光斑在图像中成像为白色饱和圆斑，而复杂的背景中白色饱和的圆斑可能会较多，测试人员判断的结果或图像处理的结果可能会出现错误，或难以找到光斑位置。

3、因此，现有的近红外强脉冲激光器远场光束质量测试设备对远场光束质量进行测试时，可能会受背景影响而导致难以找到光斑的情况，限制了使用场景和使用效果。

技术实现思路

1、本专利技术提供一种激光器远场光束质量测试装置及测试方法，用以解决现有技术中对远场光束质量进行测试时可能会受背景影响而导致难以找到光斑的缺陷。

2、本专利技术提供一种激光器远场光束质量测试装置，包括：...

【技术保护点】

1.一种激光器远场光束质量测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的激光器远场光束质量测试装置，其特征在于，所述第一控制装置(7)包括：

3.根据权利要求1所述的激光器远场光束质量测试装置，其特征在于，所述目标靶标(1)为具有固定反射率的平面靶幕。

4.根据权利要求1所述的激光器远场光束质量测试装置，其特征在于，所述四象限光电探测单元(4)通过ADC采集单元(9)连接所述数据处理单元(6)，所述ADC采集单元(9)包括四路光电信号采集通道和一路和通道，所述四路光电信号采集通道用于采集四象限激光脉冲信号幅值，所述和通道用于计算四象限激光脉冲信...

【技术特征摘要】

1.一种激光器远场光束质量测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的激光器远场光束质量测试装置，其特征在于，所述第一控制装置(7)包括：

3.根据权利要求1所述的激光器远场光束质量测试装置，其特征在于，所述目标靶标(1)为具有固定反射率的平面靶幕。

4.根据权利要求1所述的激光器远场光束质量测试装置，其特征在于，所述四象限光电探测单元(4)通过adc采集单元(9)连接所述数据处理单元(6)，所述adc采集单元(9)包括四路光电信号采集通道和一路和通道，所述四路光电信号采集通道用于采集四象限激光脉冲信号幅值，所述和通道用于计算四象限激光脉冲信号幅值的叠加值。

5.根据权利要求1所述的激光器远场光束质量测试装置，其特征在于，所述第二控制装置(8)为时序控制单元，所述时序控制单元用于调整所述近红外相机(5)的曝光时间和所述四象限光电探测单元(4)的探测时间。

6.根据权利要求1所述的激光器远场光束...

【专利技术属性】
技术研发人员：张观欣，李冬梅，赵向凯，
申请(专利权)人：中国科学院半导体研究所，
类型：发明
国别省市：