【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
技术介绍
1、制造商的惯例是使用测试系统来确保集成电路(ic)装置的可靠性和操作参数，所述装置包含半导体裸片、封装ic或芯片上系统(soc)。此类测试的结果可确定例如对ic装置的消费者公开的ic装置的操作规格。因此，给定测试系统的能力可为可在给定ic装置的数据单中指定的额定值和/或操作特性的限制因素。
技术实现思路
1、本文所描述的一个实例包含一种测试方法，所述测试方法包含将具有第一电容的电容器连接到集成电路(ic)的输出端子。所述方法还可包含响应于提供所述ic的至少一个输入端子的启用信号而产生脉冲信号。所述方法还可包含测量表示所述启用信号的开始与所述脉冲信号的开始之间的时间差的无负载延迟。所述方法还可包含将驱动信号提供到所述输出端子以响应于所述脉冲信号而产生跨越所述电容器线性增加的电压。所述方法还可包含响应于所述驱动信号而在所述输出端子处测量所述线性增加的电压。所述方法还可包含响应于所述线性增加的电压达到阈值而确定所述电容器的第一电容充电时间，以及基于所述第一电容充电时间和所述无负载延...
【技术保护点】
1.一种测试方法，其包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中确定所述第一电容充电时间包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其中
4.根据权利要求3所述的方法，其中外推所述第二电容充电延迟是根据以下等式确定的：
5.根据权利要求1所述的方法，其中所述IC包含耦合于脉冲发生器的脉冲输出与所述IC的测试输出端子之间的缓冲器，所述脉冲发生器经配置以产生所述脉冲信号，所述方法进一步包括
6.根据权利要求5所述的方法，其中所述脉冲信号是单发脉冲信号，所述方法进一步包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其中所...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种测试方法，其包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中确定所述第一电容充电时间包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其中
4.根据权利要求3所述的方法，其中外推所述第二电容充电延迟是根据以下等式确定的：
5.根据权利要求1所述的方法，其中所述ic包含耦合于脉冲发生器的脉冲输出与所述ic的测试输出端子之间的缓冲器，所述脉冲发生器经配置以产生所述脉冲信号，所述方法进一步包括
6.根据权利要求5所述的方法，其中所述脉冲信号是单发脉冲信号，所述方法进一步包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其中所述测试输出端子是ic封装的引脚或ic裸片的焊盘中的一个。
8.根据权利要求1所述的方法，其中所述驱动信号是dc电流。
9.根据权利要求8所述的方法，其中提供所述驱动信号包括响应于所述脉冲信号而将所述ic的电流源的输出连接到所述输出端子，所述电流源经配置以通过所述ic的所述输出端子将恒定电流提供到所述电容器。
10.根据权利要求9所述的方法，其中所述ic包含耦合于所述电流源的所述输出与所述ic的所述输出端子之间，且
11.根据权利要求1所述的方法，其中所述ic包含线性驱动器，所述线性驱动器经配置以提供所述驱动信号以线性化所述电容器的充电曲线且使得能够针对所述第二电容确定所述第二电容充电延迟。
12.根据权利要求1所述的方法，其中所述ic是经配置以控制理想二极管电路的控制器，所述理想二极管电路具有阳极端子、阴极端子和二极管控制端子，所述阳极端子适于耦合到晶体管的输入，所述阴极端子适于耦合到所述晶体管的输出，且所述二极管控制端子适于耦合到所述ic的所述输出端子。
【专利技术属性】
技术研发人员：V·基丹比，H·帕特尔，A·D·萨哈，叙布拉投·罗伊，
申请(专利权)人：德州仪器公司，
类型：发明
国别省市：
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