【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于太赫兹光谱探测,具体涉及一种超宽带太赫兹脉冲探测器及探测系统。
技术介绍
1、太赫兹脉冲探测器主要有光电导天线、电光晶体两类固体探测器,这两类固体探测器分别基于光电导采样技术和电光采样技术实现,然而受介质载流子的非瞬时响应、声子吸收等因素的影响,这两类固体探测器的探测带宽难以覆盖整个太赫兹波段。
2、空气、水等非固体也可以作为太赫兹脉冲探测器的介质,虽然基于非固体介质的探测器能够探测到更宽频谱的太赫兹,但是这类探测器所需要的飞秒探测光能量较高,且不稳定。
技术实现思路
1、为了解决现有固体探测器的探测带宽较窄,而基于非固体介质的探测器所需要的飞秒探测光能量较高且不稳定的问题,本专利技术提供了一种超宽带太赫兹脉冲探测器及探测系统,本专利技术采用具有强自旋霍尔效应和/或强轨道霍尔效应的单层金属薄膜的太赫兹脉冲固体探测器,稳定可靠,且可实现大于10thz的超宽带太赫兹脉冲检测。
2、本专利技术通过下述技术方案实现:
3、一种超宽带太赫兹脉冲探测器
...【技术保护点】
1.一种超宽带太赫兹脉冲探测器,其特征在于,所述超宽带太赫兹脉冲探测器由绝缘衬底以及生长于所述绝缘衬底上的单层金属薄膜构成;
2.根据权利要求1所述的一种超宽带太赫兹脉冲探测器,其特征在于,所述单层金属薄膜至少采用以下材质中的一种制备而成:
3.根据权利要求1所述的一种超宽带太赫兹脉冲探测器,其特征在于,所述单层金属薄膜的厚度为1nm~10000nm。
4.根据权利要求1-3任一项所述的一种超宽带太赫兹脉冲探测器,其特征在于,所述绝缘衬底至少采用以下材质中的一种制备而成:
5.根据权利要求4所述的一种超宽带太赫兹脉冲探测
...【技术特征摘要】
1.一种超宽带太赫兹脉冲探测器,其特征在于,所述超宽带太赫兹脉冲探测器由绝缘衬底以及生长于所述绝缘衬底上的单层金属薄膜构成;
2.根据权利要求1所述的一种超宽带太赫兹脉冲探测器,其特征在于,所述单层金属薄膜至少采用以下材质中的一种制备而成:
3.根据权利要求1所述的一种超宽带太赫兹脉冲探测器,其特征在于,所述单层金属薄膜的厚度为1nm~10000nm。
4.根据权利要求1-3任一项所述的一种超宽带太赫兹脉冲探测器,其特征在于,所述绝缘衬底至少采用以下材质中的一种制备而成:
5.根据权利要求4所述的一种超宽带太赫兹脉冲探测器,其特征在于,所述绝缘衬底的厚度为0.01mm~20mm。
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【专利技术属性】
技术研发人员:冯正,谭为,孙松,何康,
申请(专利权)人:中国工程物理研究院电子工程研究所,
类型:发明
国别省市:
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