一种在DAC压机卸压密封时对样品固化以制备TEM样品的方法技术

本发明专利技术公开了一种在DAC压机卸压密封时对样品固化以制备TEM样品的方法，属于电子显微镜样品的制作方法技术领域，包括：S1.在垫片上开设通孔，通孔的直径＜金刚石压砧砧面的直径；S2.用其中一个金刚石压砧堵住通孔的底部开口，以形成样品腔；S3.将样品和传压介质放入样品腔内，用另一个金刚石压砧堵住通孔的顶部开口，加压以挤压样品，其中传压介质具有常规情况下为液体，在紫外光照射下变为固体的特性；S4.卸压后先用紫外光照射样品腔，使包裹有样品的传压介质固化，然后打开DAC装置取出固化有样品的垫片；S5.以固化有样品的垫片为原料制备透射电镜样品；以实现避免样品在后续打开DAC装置和移动过程中出现损失，提高样品的收集率和利用率的技术效果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子显微镜样品的制作方法，特别是涉及一种在dac压机卸压密封时对样品固化以制备tem样品的方法。

技术介绍

1、dac（diamond anvil cell，中文简称：金刚石压砧压机）由一对金刚石压砧和密封垫组成，使用时，将微小的样品放入金刚石压砧的密封垫中，推动两个金刚石压砧相向而行，以对微小的样品施加超高压强。dac内目前可实现600多gpa的加压压力，是现代科学中研究物质在高压下结构演化的重要工具，在物理、材料、化学和地质等领域有着广泛的应用。然而，dac的样品腔直径通常在20-100微米，深度小于50微米，其内部可装载的样品稀少，尺寸微小。这些样品混合在液态传压介质（如硅油，甲乙醇等）中，在卸压打开金刚石压砧时，样品腔内的样品极易损失，难以收集，这使得收集到的卸压样品数量很不稳定且极其稀少，对将卸压后的样品制备成可在透射电镜（transmission electron microscope，简称tem）观测的样品产生了较大的影响，阻碍了电子显微镜表征在高压研究中的应用。

2、目前，有报道的dac样品制备透射电镜样品方法主要本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种在DAC压机卸压密封时对样品固化以制备TEM样品的方法，其特征在于：包括以下内容：

2.根据权利要求1所述的在DAC压机卸压密封时对样品固化以制备TEM样品的方法，其特征在于：S1还包括以下内容：

3.根据权利要求2所述的在DAC压机卸压密封时对样品固化以制备TEM样品的方法，其特征在于：S12中形成的通孔直径的范围为金刚石压砧砧面直径的1/2至1/3。

4.根据权利要求1所述的在DAC压机卸压密封时对样品固化以制备TEM样品的方法，其特征在于：S3中采用的传压介质为UV光敏型的树脂。

5.根据权利要求1所述的在DAC压机卸压密封时...

【技术特征摘要】

1.一种在dac压机卸压密封时对样品固化以制备tem样品的方法，其特征在于：包括以下内容：

2.根据权利要求1所述的在dac压机卸压密封时对样品固化以制备tem样品的方法，其特征在于：s1还包括以下内容：

3.根据权利要求2所述的在dac压机卸压密封时对样品固化以制备tem样品的方法，其特征在于：s12中形成的通孔直径的范围为金刚石压砧砧面直径的1/2至1/3。

4.根据权利要求1所述的在dac压机卸压密封时对样品固化以制备tem样品的方法，其特征在于：s3中采用的传压介质为uv光敏型的树脂。

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【专利技术属性】
技术研发人员：王飞，李全军，张京，
申请(专利权)人：吉林大学，
类型：发明
国别省市：