【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种偏振成像探测器的校准方法，尤其是涉及一种用于分焦平面偏振成像探测器的校准方法及校准装置。
技术介绍
1、偏振成像能够获取材料物质成份、纹理和反光等特性，在目标识别探测、生物医学和工业检测等方面发挥着重要应用。目前，偏振成像技术可分为三类：分振幅、分孔径和分焦平面。分振幅通过多路分光系统实现不同偏振分量幅值测量，分振幅偏振成像检测系统，能够消除系统环境稳定性带来的误差。缺点是整体结构复杂、体积大、重量重；多个探测器之间必须实现像素和强度匹配，且多个分光元件还会引入偏振测量误差。而分孔径偏振成像探测系统采用孔径分割的方法实现不同偏振分量的测量，系统设计和装调的难度，不同通道之间的透过率、孔径、放大倍率和像素匹配等因素要求严格大，并且将成像探测器分割成几个区域分别成像，牺牲了空间分辨率。与其他两类偏振成像系统相比，分焦平面偏振成像探测器集成度高，对光学系统要求不高。此外，它与普通成像探测器不同之处在于，它包含了额外的偏振滤波器，能够将光的偏振状态转化为图像上的强度信息。微/纳米制造技术的进步提高了分焦平面偏振成像探测器的质量...
【技术保护点】
1.一种分焦平面偏振成像探测器的误差校准方法，其特征在于：将待校准的探测器对准入射光线，在入射光线的光路上设置偏振元件，旋转偏振元件元件角度，精确控制入射光的偏振方向，将所述的探测器采集的偏振光图像与入射光理论值进行比较后完成校准，具体步骤如下：
2.根据权利要求1所述一种分焦平面偏振成像探测器误差校准方法，其特征在于，得到每个偏振成像超像元的偏振响应校准矩阵具体过程如下：
3.实现权利要求1所述的校准方法的校准装置，包括光源和偏振元件，其特征在于：所述的偏振元件设置在电动旋转平台上，所述的光源与所述的偏振元件之间设置有积分球，所述的光源发出的...
【技术特征摘要】
1.一种分焦平面偏振成像探测器的误差校准方法，其特征在于：将待校准的探测器对准入射光线，在入射光线的光路上设置偏振元件，旋转偏振元件元件角度，精确控制入射光的偏振方向，将所述的探测器采集的偏振光图像与入射光理论值进行比较后完成校准，具体步骤如下：
2.根据权利要求1所述一种分焦平面偏振成像探测器误差校准方法，其特征在于，得到每个偏振成像超像元的偏振响应校准矩阵具体过程如下：
3.实现权利要求1所述的校准方法的校准装置，包括光源和偏振元件，其特征在于：所述的偏振元件设置在电动旋转平台...
【专利技术属性】
技术研发人员：王爽，崔志英，邱元芳，张琦，毛昊阳，崔浩鑫，
申请(专利权)人：宁波永新光学股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。