一种学习密码测试方法技术

技术编号:41465004 阅读:15 留言:0更新日期:2024-05-30 14:20
本发明专利技术公开了一种学习密码测试方法,涉及机器学习技术领域,所述记忆特征参数获取单元用于获取学生在一定时间内的记忆拐点,所述理解参数获取单元包括内涵理解能力和外延理解能力,所述理解参数获取单元使用深度学习算法分别测试和分析内涵理解能力和外延理解能力,并确定内涵理解能力和外延理解能力的等级,所述综合分析单元根据记忆拐点、内涵理解能力和外延理解能力的等级找到个性化学习密码,所述方案制定单元根据综合分析单元得到的个性化学习密码制定学习巩固方案。本发明专利技术通过循环测试的方法找到学生在一定时间内的记忆拐点,并根据记忆拐点确定记忆参数,找到个性化学习密码,并为学生提供个性化的记忆训练建议。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及机器学习,具体为一种学习密码测试方法


技术介绍

1、学习密码因人而异,不同学生的学习密码存在差异,同一个学生不同学科的学习密码也存在差异,而艾宾浩斯记忆曲线是一种一般性规律,不具有个性化特性,因此,找到个性化的学习密码可以帮助学生明确最佳复习时间及复习侧重点。

2、现有的学习密码测试方法存在的缺陷是:

3、1、在专利文件cn112885172a中,主要考虑如何根据学生的测试结果自动进行相应学习方案的调整,并没有考虑到现有的学习密码测试方法灵活性较差,不能根据学生的不同找到不同的个性化学习密码,学习的效率较低;

4、2、在申请文件cn112883975a中,主要考虑如何提高对学生学习状态评估的准确性和客观性以及提高调整学生课程学习的灵活性和可靠性,并没有考虑到现有的学习密码测试方法不能测试学生的内涵和外延理解能力并根据测试结果划分内涵和外延等级的问题;

5、3、在申请文件cn109118861a中,主要利用人工智能和大数据算法,优化学生的学习策略,为学生提供智能化、个性化的教学内容和习题,并提供本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种学习密码测试方法,包括记忆特征参数获取单元、理解参数获取单元、综合分析单元和方案制定单元,其特征在于:所述记忆特征参数获取单元用于获取学生在一定时间内的记忆拐点,所述理解参数获取单元包括内涵理解能力和外延理解能力,所述理解参数获取单元使用深度学习算法分别测试和分析内涵理解能力和外延理解能力,并确定内涵理解能力和外延理解能力的等级,所述综合分析单元根据记忆拐点、内涵理解能力和外延理解能力的等级找到个性化学习密码,所述方案制定单元根据综合分析单元得到的个性化学习密码制定学习巩固方案;

2.根据权利要求1所述的一种学习密码测试方法,其特征在于,在步骤S1中,还包括如下步骤:...

【技术特征摘要】

1.一种学习密码测试方法,包括记忆特征参数获取单元、理解参数获取单元、综合分析单元和方案制定单元,其特征在于:所述记忆特征参数获取单元用于获取学生在一定时间内的记忆拐点,所述理解参数获取单元包括内涵理解能力和外延理解能力,所述理解参数获取单元使用深度学习算法分别测试和分析内涵理解能力和外延理解能力,并确定内涵理解能力和外延理解能力的等级,所述综合分析单元根据记忆拐点、内涵理解能力和外延理解能力的等级找到个性化学习密码,所述方案制定单元根据综合分析单元得到的个性化学习密码制定学习巩固方案;

2.根据权利要求1所述的一种学习密码测试方法,其特征在于,在步骤s1中,还包括如下步骤:

3.根据权利要求1所述的一种学习密码测试方法,其特征在于,在步骤s2中,还包括如下步骤:

4.根据权利要求1所述的一种学习密码测试方法,其特征在于,在步骤s3中,还包括如下步骤:<...

【专利技术属性】
技术研发人员:董满生陈登诺胡志娟
申请(专利权)人:安徽壬乾宁科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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