一种用于光反馈干涉测量的可移动导轨制造技术

技术编号:41461403 阅读:13 留言:0更新日期:2024-05-28 20:46
本技术涉及光反馈干涉测量用导轨技术领域,具体为一种用于光反馈干涉测量的可移动导轨,包括主体,所述主体内滑动套接有三个底座,三个底座内的下部均设置有设备仓,三个设备仓内均设置有移动机构。本技术能够使用于光反馈干涉测量的导轨具有自动调节移动底座的功能,实现自动调节不同光学仪器间距的目的,有效的解决了传统光学试验中需要工作人员手动调节移动底座的问题,在光学试验中实现全自动化的目的,有效的提高了光学试验的精准性和便捷性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及光反馈干涉测量用导轨,尤其涉及一种用于光反馈干涉测量的可移动导轨


技术介绍

1、光反馈干涉测量是用于光的干涉试验和光的衍射试验等多种光学试验测量,在光反馈干涉测量中,往往需要在光反馈干涉测量的导轨上安装多个底座,然后将多个不同的光学仪器安装在多个底座上,通过底座的移动来调节光学仪器的移动,使多种不同的光学仪器间距进行调节,实现光的干涉试验和光的衍射试验等多种光学试验。

2、现有中国专利公告号为cn215987763u的一种用于光反馈干涉测量的可移动导轨,其包括底板、导轨、底座、光屏、刻度线、滑块和安装柱;底板沿横向设置;导轨设置在底板上;底座滑动设置在导轨上,底座为u形结构;光屏设置在底座上,光屏横向一侧底部设置有滑槽,滑槽沿纵向分布;光屏横向一侧上部设置有刻度线,刻度线与滑槽位于光屏同侧;滑块设置有两个,两个滑块均滑动设置在光屏上,两个滑块均位于滑槽内;安装柱设置有两个,两个安装柱分别设置在两个滑块上。本技术能够方便实验员记录光的干涉试验结果,提高实验结果的记录精度。

3、现有技术中,用于光反馈干涉测量的导轨不具备自动本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于光反馈干涉测量的可移动导轨,包括主体(2),其特征在于:所述主体(2)内滑动套接有三个底座(6),三个底座(6)内的下部均设置有设备仓(9),三个设备仓(9)内均设置有移动机构;

2.根据权利要求1所述的一种用于光反馈干涉测量的可移动导轨,其特征在于:三个移动机构包括分别固定安装在三个设备仓(9)内的三个电机(10),三个电机(10)的输出轴末端分别贯穿三个设备仓(9)内的上端并均固定连接有蜗杆(11),三个蜗杆(11)的上端分别转动连接在三个底座(6)内的上端,三个蜗杆(11)的一侧均啮合有蜗轮(12),三个蜗轮(12)分别固定套接在三个丝杠螺母(13)上。...

【技术特征摘要】

1.一种用于光反馈干涉测量的可移动导轨,包括主体(2),其特征在于:所述主体(2)内滑动套接有三个底座(6),三个底座(6)内的下部均设置有设备仓(9),三个设备仓(9)内均设置有移动机构;

2.根据权利要求1所述的一种用于光反馈干涉测量的可移动导轨,其特征在于:三个移动机构包括分别固定安装在三个设备仓(9)内的三个电机(10),三个电机(10)的输出轴末端分别贯穿三个设备仓(9)内的上端并均固定连接有蜗杆(11),三个蜗杆(11)的上端分别转动连接在三个底座(6)内的上端,三个蜗杆(11)的一侧均啮合有蜗轮(12),三个蜗轮(12)分别固定套接在三个丝杠螺母(13)上。

3.根据权利要求1所述的一种用于光反馈干涉测量的可移动导轨,其特征在于:三个丝杠螺母(13)的两侧均转动套接有套圈(16),六个套圈(16)的上下两端均固定有固定杆(15),十二个固定杆(15)的另一端分别固定连接在三个底座(6)内的上下两端。

4.根据权利要求1所述的一种用于光...

【专利技术属性】
技术研发人员:李让峰
申请(专利权)人:天津良益科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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