一种基于数据分析的教育质量评估系统技术方案

技术编号:41460659 阅读:17 留言:0更新日期:2024-05-28 20:46
本发明专利技术属于教育质量评估领域,涉及数据分析技术,用于解决现有技术中的教育质量评估系统缺少对教师工作状态进行监督分析的功能的问题,具体是一种基于数据分析的教育质量评估系统,包括质量评估平台,质量评估平台通信连接有学习监测模块、教师分析模块以及存储模块;学习监测模块用于对学生的学习状态进行监测分析:生成监测周期;通过监测系数JC对监测周期内学生的学习状态是否满足要求进行判定;本发明专利技术对学生的学习状态进行监测分析,以周期性监测的方式获取多项学习状态参数并进行综合分析与计算得到监测系数,通过监测系数对学生在监测周期内的整体学习状态好坏程度进行反馈,并在学习状态异常时进行预警。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于教育质量评估领域,涉及数据分析技术,具体是一种基于数据分析的教育质量评估系统


技术介绍

1、教育质量评估系统是指教育评估对象各部分之间有规律的、稳定的联系所构成的体系,这一体系能够有效地评估教育的质量,帮助人们理解教育过程中的优点和不足,并促进教育质量的提升。

2、现有技术中的教育质量评估系统一般仅能够对学生的学习状态进行监控,但是缺少对教师工作状态进行监督分析的功能,导致教师工作状态无法得到有效管束,教育质量难以提升。

3、针对上述技术问题,本申请提出一种解决方案。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种基于数据分析的教育质量评估系统,用于解决现有技术中的教育质量评估系统缺少对教师工作状态进行监督分析的功能的问题;

2、本专利技术需要解决的技术问题为:如何提供一种可以对教师工作状态进行监督分析的基于数据分析的教育质量评估系统。

3、本专利技术的目的可以通过以下技术方案实现:

4、一种基于数据分析的教育质量评估系统,包括质量评本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于数据分析的教育质量评估系统,其特征在于,包括质量评估平台,所述质量评估平台通信连接有学习监测模块、教师分析模块以及存储模块;

2.根据权利要求1所述的一种基于数据分析的教育质量评估系统,其特征在于,成绩数据CJ的获取过程包括:获取监测周期内每次考试的合格率,对监测周期内所有考试的合格率进行求和取平均值得到成绩数据CJ;考勤数据KQ的获取过程包括:获取监测周期内每个自然日的缺勤率,对监测周期内每个自然日的缺勤率进行求和取平均值得到考勤数据KQ。

3.根据权利要求2所述的一种基于数据分析的教育质量评估系统,其特征在于,对监测周期内学生的学习状态是否满足要求...

【技术特征摘要】

1.一种基于数据分析的教育质量评估系统,其特征在于,包括质量评估平台,所述质量评估平台通信连接有学习监测模块、教师分析模块以及存储模块;

2.根据权利要求1所述的一种基于数据分析的教育质量评估系统,其特征在于,成绩数据cj的获取过程包括:获取监测周期内每次考试的合格率,对监测周期内所有考试的合格率进行求和取平均值得到成绩数据cj;考勤数据kq的获取过程包括:获取监测周期内每个自然日的缺勤率,对监测周期内每个自然日的缺勤率进行求和取平均值得到考勤数据kq。

3.根据权利要求2所述的一种基于数据分析的教育质量评估系统,其特征在于,对监测周期内学生的学习状态是否满足要求进行判定的具体过程包括:通过存储模块获取到监测阈值jcmin,将监测周期的监测系数jc与监测阈值jcmin进行比较:若监测系数jc小于监测阈值jcmin,则判定监测周期内的学生学习状态不满足要求,生成学习监督信号并将学习监督信号发送至质量评估平台,质量评估平台接收到学习监督信号后将学习监督信号发送至管理人员的手机终端;若监测系数jc大于等于监测阈值jcmin,则判定监测周期内的教学状态不满足要求。

4.根据权利要求3所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:李磊许娜赵尧麟赵淑平
申请(专利权)人:合肥斯维特信息技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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