【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及数据处理领域，具体而言，涉及一种过程能力优化方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、在管理状态的制程上，该过程具有达成品质的能力，称为过程能力。过程能力指数是指过程能力满足产品质量标准要求(规格范围等)的程度。随着半导体、医药、化工等行业的技术发展，加工工艺的日趋复杂，对产品质量的日益关注，往往会出现经过一道测试工序后，需要计算几十个甚至上百个过程能力指数的情况。
2、目前，技术人员仅能计算、查询和评价单个质量指标的过程能力指数结果，无法对同一道工序的所有质量指标的过程能力进行有效的分析和优化，导致生产工序的产品质量差。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种过程能力优化方法、装置、电子设备及存储介质，其对工序的所有指标的过程能力指数更有效地分析，提升了生产工序的过程指数能力，有助于提升生产工序的产品质量。
2、为了实现上述目的，本专利技术实施例采用的技术方案如下：
3、第一方面，本专利技术实施例提供一种过程能力优...
【技术保护点】
1.一种过程能力优化方法，其特征在于，应用于优化控制设备，所述优化控制设备与目标工序的各加工设备通信连接，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的过程能力优化方法，其特征在于，所述优化控制设备还与运维设备通信连接；
3.根据权利要求2所述的过程能力优化方法，其特征在于，所述指标分析图还包括第一纠偏区、第二纠偏区和精度调整区，所述第一纠偏区、第二纠偏区和精度调整区均位于所述指标分析图中表征质量等级为不合格的等级区域；
4.根据权利要求2所述的过程能力优化方法，其特征在于，所述依据与所述负面性能指标的分布情况匹配的优化策略，对至少一个所...
【技术特征摘要】
1.一种过程能力优化方法，其特征在于，应用于优化控制设备，所述优化控制设备与目标工序的各加工设备通信连接，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的过程能力优化方法，其特征在于，所述优化控制设备还与运维设备通信连接；
3.根据权利要求2所述的过程能力优化方法，其特征在于，所述指标分析图还包括第一纠偏区、第二纠偏区和精度调整区，所述第一纠偏区、第二纠偏区和精度调整区均位于所述指标分析图中表征质量等级为不合格的等级区域；
4.根据权利要求2所述的过程能力优化方法，其特征在于，所述依据与所述负面性能指标的分布情况匹配的优化策略，对至少一个所述加工设备的生产状态进行优化控制的步骤，包括：
5.根据权利要求1至4中任一项所述的过程能力优化方法，其特征在于，所述根据所述指标分析图中各所述指标的标准化参数的分布情况，确定出影响所述目标工序的产品质量的负面性能指标的步骤，包括：
6.根据原权利要求1所述的过程能力优化方法，其特征在于，在所述调取预设置的所述目标工序的过程能力指数等高线图的步骤之前，所述方法还包括：
7.根据权利要求6所述的过程能力优化方法，其特征在于，所述规格限制值包括规格上限值和规格下限值；
8.根据...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗小荣，周暐，梁川，陈雪军，陈培武，袁红英，梁彧，
申请(专利权)人：江西南昌济生制药有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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