一种适用于非均匀媒质环境的无线信道衰落分布模型及其应用制造技术

技术编号:41441451 阅读:21 留言:0更新日期:2024-05-28 20:34
本发明专利技术公开了一种适用于非均匀媒质环境的无线信道衰落分布模型及其应用,所述的模型为λ‑κ‑μ模型,用于描述存在直射路径的多条多径簇信号在非均匀媒质中传输时的衰落特性;其中,参数λ描述每个多径簇中的同相和正交分量的相关性,‑1≤λ≤1;参数κ用于量化直射分量和散射分量之间的相对强度,κ>0;参数μ表示多径簇的数量,μ>0。本发明专利技术精准地刻画考虑直射路径的多径簇信号在通过非均匀信道环境时的衰落特性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于无线通信和5g移动信道建模,特别涉及一种适用于非均匀媒质环境的无线信道衰落分布模型及其应用


技术介绍

1、在无线通信领域,受自由空间路径损耗、介质特性、地形、电磁干扰等因素影响,信号发生反射、衍射、散射和多径现象,使得接收到的信号是来自信道中多个方向的叠加信号,呈现出复杂的衰落特性。在这种情况下,信号强度或质量在短时间内表现快速波动,即小尺度快衰落。当前,5g和6g技术在设计和实施时面临一系列技术和工程挑战,特别是在高频率利用、增加带宽和降低时延方面,促使接收信号在小尺度上需要更高精度的拟合,即亟需一种信道模型适用于复杂、多样的无线通信环境。为了更好地理解和描述这些衰落特性,现有技术使用包括瑞利、莱斯、nakagami-m、η-μ、κ-μ和η-κ等多个模型进行模拟刻画。然而,上述现有模型都存在一定的局限性,例如:瑞利、莱斯分布只适用于一个多径簇的信道环境;nakagami-m分布虽描述多个多径簇的信道环境,但其尾部分布与实验数据不匹配;双参数复合分布模型η-μ、κ-μ和η-κ虽具有参数灵活的特点,但只适用于描述理想均匀媒质的信道环境。...

【技术保护点】

1.一种适用于非均匀媒质环境的无线信道衰落分布模型,其特征是:所述的模型为λ-κ-μ模型,用于描述存在直射路径的多条多径簇信号在非均匀媒质中传输时的衰落特性;其中,参数λ描述每个多径簇中的同相和正交分量的相关性,-1≤λ≤1;参数κ用于量化直射分量和散射分量之间的相对强度,κ>0;参数μ表示多径簇的数量,μ>0。

2.根据权利要求1所述一种适用于非均匀媒质环境的无线信道衰落分布模型,其特征是:所述的λ-κ-μ模型包括包络和功率的归一化概率密度函数PDF、累积分布函数CDF、高阶原点矩和矩母函数MGF。

3.根据权利要求2所述一种适用于非均匀媒质环境的无...

【技术特征摘要】

1.一种适用于非均匀媒质环境的无线信道衰落分布模型,其特征是:所述的模型为λ-κ-μ模型,用于描述存在直射路径的多条多径簇信号在非均匀媒质中传输时的衰落特性;其中,参数λ描述每个多径簇中的同相和正交分量的相关性,-1≤λ≤1;参数κ用于量化直射分量和散射分量之间的相对强度,κ>0;参数μ表示多径簇的数量,μ>0。

2.根据权利要求1所述一种适用于非均匀媒质环境的无线信道衰落分布模型,其特征是:所述的λ-κ-μ模型包括包络和功率的归一化概率密度函数pdf、累积分布函数cdf、高阶原点矩和矩母函数mgf。

3.根据权利要求2所述一种适用...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐冠军王欢刘俊良宋朝晖党小宇曾志
申请(专利权)人:杭州电子科技大学
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1