【技术实现步骤摘要】
本申请涉及集成电路，尤其涉及一种存储器检测方法、集成电路装置、存储介质及激光雷达。
技术介绍
1、激光雷达芯片是激光雷达的核心组件，其负责所有激光雷达信息的采集和处理和传输，因此保证激光雷达芯片在整个生命周期中和使用过程中的功能安全性是非常重要的。激光雷达芯片包括存储器，激光雷达的实时工作使得存储器经常发生数据访问；为保证数据访问能够顺利进行，则需要保证存储器的存储区域是有效的，因此需要对存储器的有效性进行检测。
2、在相关技术方案采用mbist(memory build in self test，存储器内建自测)技术对激光雷控芯片的存储器进行检测。具体地，在存储器内部的存储器电路外围增加bist单元电路，通过bist单元电路产生对存储器的测试激励指令，并根据测试结果确定存储器是否存在失效的区域。在对存储器所有区域连续检测并确定有效之后，再进行存储器的数据访问；然而，这种技术方案使激光雷达芯片存储器持续不能进行访问的时间较长，激光雷达芯片的性能受到影响，会影响到激光雷达的正常工作。
技术实现思路<
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【技术保护点】
1.一种存储器检测方法，其特征在于，应用于集成电路装置，所述集成电路装置包括存储器，所述存储器包括多个预设的存储分区，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述集成电路装置包括存储有每个所述存储分区分别对应的一段地址信息的预设存储单元；
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述从所述预设存储单元获取一段地址信息，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据各所述存储分区受访问的频次，从所述预设存储单元获取一段地址信息，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对当前检测...
【技术特征摘要】
1.一种存储器检测方法，其特征在于，应用于集成电路装置，所述集成电路装置包括存储器，所述存储器包括多个预设的存储分区，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述集成电路装置包括存储有每个所述存储分区分别对应的一段地址信息的预设存储单元；
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述从所述预设存储单元获取一段地址信息，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据各所述存储分区受访问的频次，从所述预设存储单元获取一段地址信息，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对当前检测分区进行检测，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述确定所述存储器是否处于空闲状态，包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述当前检测分区进行检测的步骤之后，所述方法还包括：
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
9.一种集成电路装置，其特征在于，所述集成电路装置包括存储器，所述存储器包括多个预设的存储分区，所述集成电路装置还包括：
【专利技术属性】
技术研发人员：廖裕民，
申请(专利权)人：深圳市速腾聚创科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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