基于激光回馈效应的角度检测系统技术方案

本发明专利技术提供基于激光回馈效应的角度检测系统。该基于激光回馈效应的角度检测系统，包括：LD、MC、BS、L、AOM、Lens、OF、T、光纤，所述LD输出808nm的激光，所述激光对增益介质进行光泵浦并形成1064nm的稳态单纵模激光，所述稳态单纵模激光经过分光镜BS后形成透射光和反射光，所述透射光经过L后以一定的角度进入AOMs，并在声光调制器的声光衍射作用下被分为零频光和倍频光。该基于激光回馈效应的角度检测系统，基于激光回馈效应实现了角度的非接触检测，解决了传统角度检测系统在复杂的结构受限、精度容易受到环境因素干扰等问题，利用基于激光回馈效应测量位移原理，采用了单激光器的方案，简化了利用激光回馈效应测量角度系统的结构。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及角度检测系统，具体为基于激光回馈效应的角度检测系统。

技术介绍

1、角度测量是测量物体或者物体组成部分之间夹角或者旋转角度的技术，是现代精密测量领域中的一个重要的分支。随着现代测量技术和应用领域的不断拓展，需要测量精度越来越高的角度，尤其是在工程、制造、建筑等领域中，精密角度测量显得尤为重要，其准确性对于确保产品的质量、优化工艺和降低成本至关重要。传统的角度测量方法主要使用机械式测角仪或者光学测角仪，但是这些方法有很多局限性，如复杂的结构、精度受到环境因素干扰等。

2、传统的激光干涉技术存在一些弊端，比如需要反射率高、严格对准的表面作为测量面，或者需要在被测目标上安装靶镜，无法测量微小、反射率低的物体的问题。

技术实现思路

1、(一)解决的技术问题

2、针对现有技术的不足，本专利技术提供了基于激光回馈效应的角度检测系统，解决了需要在被测目标上安装靶镜，无法测量微小、反射率低的物体等问题的问题。

3、(二)技术方案

4、为实现以上目的，本专利技术通过本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.基于激光回馈效应的角度检测系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的基于激光回馈效应的角度检测系统，其特征在于：所述LD为半导体激光器、MC为Nd:YVO4晶体微片、BS为分光镜、L为透镜、AOM为声光调制器、PD为光电检测器、Lens为透镜组、OF为单透镜耦合光纤、T为被测目标，所述增益介质为Nd:YVO4晶体。

3.根据权利要求1所述的基于激光回馈效应的角度检测系统，其特征在于：所述声光调制器内部设置有固体微片激光器。

4.根据权利要求1所述的基于激光回馈效应的角度检测系统，其特征在于：所述光纤的耦合方式采用光学透镜，所述光学透镜为单透...

【技术特征摘要】

1.基于激光回馈效应的角度检测系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的基于激光回馈效应的角度检测系统，其特征在于：所述ld为半导体激光器、mc为nd:yvo4晶体微片、bs为分光镜、l为透镜、aom为声光调制器、pd为光电检测器、lens为透镜组、of为单透镜耦合光纤、t为被测目标，所述增益介质为nd:yvo4晶体。

3.根据权利要求1所述的基于激光回馈效应的角度检测系统，其特征在于：所述声光调制器内部设置有固体微片激光器。

4.根据权利要求1所述的基于激光回馈效应的角度检...

【专利技术属性】
技术研发人员：任佳龙，吴鹏，杨兆一，
申请(专利权)人：贵州大学，
类型：发明
国别省市：