【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及编码器精度测试，具体提供一种用于编码器变温精度测试的温度隔离检测台。
技术介绍
1、编码器作为高端数控机床、自动化、智能传感的关键部件，其精度指标直接影响所在设备的运行和定位精度。通常对于高精度编码器而言，其提供的精度曲线为某一预设温度状态下0～360°的分度误差，而并不提供其他温度条件下的精度曲线及随温度变化的精度变化。
2、目前，国内外编码器厂家在提供精度曲线时，均提供指定恒温下的精度曲线，对于非此温度下的编码器精度变化，无法提供数据曲线，但编码器的实际工作环境通常并不是编码器厂家提供的指定温度，因此，编码器厂家提供的指定恒温下的精度曲线并不可靠。
3、现有精度检测方案有两种：一种是使用多面棱体作为检测基准，测试编码器的精度，另一种是以转台或其他高精度数字连续测量设备为检测基准，测试编码器的精度。上述两种精度检测方案均未考虑温度对编码器精度误差的影响，并且将检测基准与测试编码器设置在同一温度环境下，当需要对测试编码器进行变温测试时，检测基准与测试编码器的环境温度均会发生变化，但检测基准仅能够在额...
【技术保护点】
1.一种用于编码器变温精度测试的温度隔离检测台，其特征在于，包括：旋转主轴、基准转台、温控箱、固定板和密封圈；
2.如权利要求1所述的用于编码器变温精度测试的温度隔离检测台，其特征在于，还包括支撑架，所述支撑架用于支撑所述温控箱，所述温控箱设置在所述支撑架的上表面，所述基准转台设置在所述支撑架的下方。
3.如权利要求1所述的用于编码器变温精度测试的温度隔离检测台，其特征在于，所述温控箱的内部设置有加热片和制冷器，用于调节所述温控箱内部的温度。
4.如权利要求3所述的用于编码器变温精度测试的温度隔离检测台，其特征在于，所述温控箱的箱体...
【技术特征摘要】
1.一种用于编码器变温精度测试的温度隔离检测台，其特征在于，包括：旋转主轴、基准转台、温控箱、固定板和密封圈；
2.如权利要求1所述的用于编码器变温精度测试的温度隔离检测台，其特征在于，还包括支撑架，所述支撑架用于支撑所述温控箱，所述温控箱设置在所述支撑架的上表面，所述基准转台设置在所述支撑架的下方。
3.如权利要求1所述的用于编码器变温精度测试的温度隔离检测台，其特征在于，所述温控箱的内部设置有加热片和制冷器，用于调节所述温控箱内部的温度。
4.如权利要求3所述的用于编码器变温精度测试的温度隔离检测台，其特征在于，所述温...
【专利技术属性】
技术研发人员：焦环宇，赵亮，杨尚，刘宇超，赵兴达，宋宁宁，
申请(专利权)人：长春禹衡光学有限公司，
类型：发明
国别省市：
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