【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本公开涉及一种成像元件及测距装置。
技术介绍
1、目前存在使用包括多个单光子雪崩二极管(spad，single photon avalanchediode)的像素阵列来测量到被拍摄物体的距离的测距装置或测距系统。
2、例如，专利文献1的测距装置包括：脉冲光源，其释放光信号；检测器阵列，其包括单个光子检测器，所述单个光子检测器输出分别表示入射的多个光子的到达时间的各检测信号；以及处理电路，其接收各检测信号。处理电路包括：相关器电路，其构成为输出各相关信号，所述各相关信号表示检测出具有相对于彼此处于规定相关时间内的到达时间的光子之中的一个光子以上；时间处理电路，其包括计数器电路和时间累加器电路，所述计数器电路构成为基于各相关信号或检测信号来使计数值递增，所述时间累加器电路构成为产生累加时间值。
3、专利文献1：日本公表专利公报特表2021-513087号公报
技术实现思路
1、-专利技术要解决的技术问题-
2、不过，在专利文献1中，需要在各像素中具备计数器电...
【技术保护点】
1.一种成像元件，其特征在于：
2.根据权利要求1所述的成像元件，其特征在于：
3.根据权利要求1或2所述的成像元件，其特征在于：
4.根据权利要求1到3中任一项权利要求所述的成像元件，其特征在于：
5.根据权利要求1到4中任一项权利要求所述的成像元件，其特征在于：
6.根据权利要求5所述的成像元件，其特征在于：
7.一种测距装置，其特征在于：
8.根据权利要求7所述的测距装置，其特征在于：
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种成像元件，其特征在于：
2.根据权利要求1所述的成像元件，其特征在于：
3.根据权利要求1或2所述的成像元件，其特征在于：
4.根据权利要求1到3中任一项权利要求所述的成像元件，其特征在于：
【专利技术属性】
技术研发人员：广濑裕，
申请(专利权)人：松下知识产权经营株式会社，
类型：发明
国别省市：
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