样品检测支架制造技术

本技术涉及一种样品检测支架，包括支撑组件、至少一个样品固定组件以及探测器固定组件；所述支撑组件界定出一个上下贯通的容置空间，所述容置空间包括位于上方的样品容置空间以及位于下方的探测器容置空间；所述至少一个样品固定组件设置于所述支撑组件上，且设置于所述样品容置空间内；所述探测器固定组件设置于所述支撑组件上，且设置于所述探测器容置空间内。本技术通过构造一种样品检测支架，可以针对性地固定特定样品量的取样瓶，并固定探测器探头，保证探头与取样瓶之间的距离，确保检测的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及核辐射检测领域，尤其是涉及可与核辐射探测仪器配合的样品检测支架。

技术介绍

1、核辐射探测仪器在总γ和γ核素测中，探测器与样品的空间相对位置稳定对于测量准确性非常重要，这是因为样品与探测器的空间相对位置直接与探测效率系数相关，其中探测器效率与探头和放射性样品之间的距离的平方呈反比关系，此外由于探测器接收γ射线并产生信号的灵敏区域并不是各向同性，因此即使距离一致的情况下，探测效率也可控不同。如果每次测量时样品的位置不同，就会造成测量值系统偏差。

2、通常总γ仪或γ谱仪厂家提供的仪器只提供探测器本体、铅室等基本部件，但不会提供样品测量支架，这是因为不同客户需要测量的样品形状大小不同，无法提供统一的样品测量支架。而核电厂一、二回路水样γ类放射性测量，样品量和取样瓶形状比较固定，因此设计制作一个能够确保样品测量位置固定的支架是有必要的。

技术实现思路

1、本技术所要解决的技术问题在于，提供一种样品检测支架。

2、本技术采用如下技术方案：

3、构造一种样品检测支架，包括：<本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种样品检测支架，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的样品检测支架，其特征在于，所述支撑组件(10)包括至少一个侧支撑件(11)，所述至少一个侧支撑件(11)呈纵长设置，自上而下形成有至少三个槽口，所述至少一个样品固定组件(20)以及所述探测器固定组件(30)分别设置于所述至少三个槽口内。

3.根据权利要求2所述的样品检测支架，其特征在于，所述支撑组件(10)还包括至少一个底部固定件(12)以及至少一个顶部固定件(13)，底部固定件(12)以及所述顶部固定件(13)均呈环状设置，所述至少一个侧支撑件(11)包括三个侧支撑件(11)，所述三个侧支撑件(1...

【技术特征摘要】

1.一种样品检测支架，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的样品检测支架，其特征在于，所述支撑组件(10)包括至少一个侧支撑件(11)，所述至少一个侧支撑件(11)呈纵长设置，自上而下形成有至少三个槽口，所述至少一个样品固定组件(20)以及所述探测器固定组件(30)分别设置于所述至少三个槽口内。

3.根据权利要求2所述的样品检测支架，其特征在于，所述支撑组件(10)还包括至少一个底部固定件(12)以及至少一个顶部固定件(13)，底部固定件(12)以及所述顶部固定件(13)均呈环状设置，所述至少一个侧支撑件(11)包括三个侧支撑件(11)，所述三个侧支撑件(11)均匀间隔地设置于所述至少一个底部固定件(12)以及所述至少一个顶部固定件(13)的周向上，并一道界定出所述容置空间。

4.根据权利要求2所述的样品检测支架，其特征在于，所述至少一个样品固定组件(20)包括第一样品固定组件(21)和/或第二样品固定组件(22)；

5.根据权利要求4所述的样品检测支架，其特征在于，所述定位组件(222)包括第一定位框架(2221)、第二定位框架(2222)、导向框架(2223)以及定位滑片(2224)，所述导向框架(2223)设置于所述第一定位框架(2221)以及所述第二定位框架(2222)之间，且与所述第一定位框架(2221)以及所述第二定位框架(2222)一道界定出用于容置所述定位滑片(2224)的空间，所述定位滑片(2224)可来回滑动地设置于所述空间内。

6.根据权利要求4所述的样品检测支架，其特征在于，所述至少一个样品固定组件(20)包括所述第一样品固定组件(21)和所述第二样品固定组件(22)，所述至少一个侧支撑件(11)包括三个侧支撑件(11)，所述三个侧支撑件(11)均匀间隔地设置于所述第一样品固定组件(21)和所述第二样品固定组件(22)的周向上，每个所述侧支撑件(11)均呈板状，且自上而下均...

【专利技术属性】
技术研发人员：许发伦，粟本华，赵红杰，闵春，叶伟，邓涛，曾飞，
申请(专利权)人：广西防城港核电有限公司，
类型：新型
国别省市：