一种基于小波降噪的光电产品信号测量方法技术

本发明专利技术涉及光电产品信号测量领域，尤其是基于小波降噪方法的光电产品信号测量的方法。包括以下步骤：获取光电产品的输出信号并存储为一维数据；选取小波基；利用准实时多尺度小波变换降噪算法，得到滑动窗口最大宽度和小波分解深度；对一维数据中的噪声标准差进行估计，得到小波收缩阈值；基于滑动窗口最大宽度和小波分解深度对小波进行多尺度分解；基于小波收缩阈值对分解后各尺度上的小波系数进行阈值量化处理；对处理后的小波进行逆变换，重构信号。利用非线性小波变换阈值法实现准实时降低光电产品测量数据的噪声，同时保留有用数据；通过采用合适的滑动窗口与分解深度，在计算量与降噪效果之间达到平衡。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光电产品信号测量领域，尤其是基于小波降噪方法的光电产品信号测量的方法。

技术介绍

1、在航空、航天领域的光电产品的研制生产过程中，对于在多轴转台的半实物仿真中的光电产品信号的测量与指标测试是非常重要的一个环节，在研制生产过程中验证产品是否达到设计要求，及时发现缺陷和问题，对研制和生产具有重要意义。由于采集到的光电产品信号往往含有多轴转台自身动静摩擦力不一致、压力变化带来的系统扰动、振动噪声等因素以及被测光电产品自身伺服机构的结构和运动特性产生的噪声，因此，在光电产品的信号测量过程中有效降低采集数据噪声需要更多的重视与研究。

技术实现思路

1、本专利技术所要解决的技术问题在于，提供一种基于小波降噪的光电产品信号测量方法，利用小波分解、高频系数的阈值量化与一维小波重构并输出降噪后的测量信号。

2、本专利技术的技术方案为：

3、一种基于小波降噪的光电产品信号测量方法，包括以下步骤：

4、获取光电产品的输出信号并存储为一维数据；

5、选取小波基；

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【技术保护点】

1.一种基于小波降噪的光电产品信号测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种基于小波降噪的光电产品信号测量方法，其特征在于，基于小波的支撑长度、对称性、消失矩、正则性、正交性对小波基进行选择。

3.根据权利要求1所述的一种基于小波降噪的光电产品信号测量方法，其特征在于，所述小波基为DB小波。

4.根据权利要求1所述的一种基于小波降噪的光电产品信号测量方法，其特征在于，所述准实时多尺度小波变换降噪算法，具体为：

5.根据权利要求1所述的一种基于小波降噪的光电产品信号测量方法，其特征在于，所述滑动窗口最大宽度为2J，所述...

【技术特征摘要】

1.一种基于小波降噪的光电产品信号测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种基于小波降噪的光电产品信号测量方法，其特征在于，基于小波的支撑长度、对称性、消失矩、正则性、正交性对小波基进行选择。

3.根据权利要求1所述的一种基于小波降噪的光电产品信号测量方法，其特征在于，所述小波基为db小波。

4.根据权利要求1所述的一种基于小波降噪的光电产品信号测量方法，其特征在于，所述准实时多尺度小波变换降噪算法，具体为：

5.根据权利要求1所述的一种基于小波降噪的光电产品信号测量方...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗海波，惠斌，孙健，崔永山，赵大威，刘涛，
申请(专利权)人：中国科学院沈阳自动化研究所，
类型：发明
国别省市：