【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及三维测量，尤其是涉及一种基于单线激光和mems扫描微镜的三维测量装置及方法。
技术介绍
1、三维测量是指对某个三维物体的外型通过技术手段进行精确量测，从而获得其外型的尺寸大小，为建立适合计算机表示和处理的数学模型、或逆向工程设计、或便于计算机对被测物体进行分析、处理，也是在计算机中建立表达客观世界的虚拟现实的关键技术。常见的三维测量的方法有：结构光法，飞行时间法，单目/多目相机法和深度学习法等，不同方法有着各自的优势和适用范围。
2、专利cn110702007b公开了一种基于mems扫描振镜的线结构光三维测量方法，该方法通过设定每个光点的亮度区分不同的光点，并采用二维棋盘靶标标定激光发射点和光点的光线方程确定光线方向，减小计算复杂度，同时消除提取光条中心的误差，提高测量准确度。专利申请cn116412772a公开了一种基于mems的面阵光谱共焦3d测量装置及方法，该装置通过去除位移机构，简化了设备以提高检测效率。然而目前常见的基于激光的三维重建设备有着成本高，搭建不方便，较少用于小型物体外型测量、三维物体小模型...
【技术保护点】
1.一种基于单线激光和MEMS扫描微镜的三维测量装置，其特征在于，包括：单线激光器(1)、激光控制器(2)、MEMS扫描微镜(4)、微镜控制器(13)、激光接收器(9)和计算机(14)，
2.根据权利要求1所述的一种基于单线激光和MEMS扫描微镜的三维测量装置，其特征在于，所述单线激光扩展为二维扫描面的步骤包括：
3.根据权利要求2所述的一种基于单线激光和MEMS扫描微镜的三维测量装置，其特征在于，所述的MEMS扫描微镜(4)分别按慢轴的工作频率和快轴的工作谐振频率使得MEMS扫描微镜(4)分别在水平和垂直方向产生谐振偏转，根据谐振偏转确定所述...
【技术特征摘要】
1.一种基于单线激光和mems扫描微镜的三维测量装置，其特征在于，包括：单线激光器(1)、激光控制器(2)、mems扫描微镜(4)、微镜控制器(13)、激光接收器(9)和计算机(14)，
2.根据权利要求1所述的一种基于单线激光和mems扫描微镜的三维测量装置，其特征在于，所述单线激光扩展为二维扫描面的步骤包括：
3.根据权利要求2所述的一种基于单线激光和mems扫描微镜的三维测量装置，其特征在于，所述的mems扫描微镜(4)分别按慢轴的工作频率和快轴的工作谐振频率使得mems扫描微镜(4)分别在水平和垂直方向产生谐振偏转，根据谐振偏转确定所述水平和垂直方向的偏转角度。
4.根据权利要求1所述的一种基于单线激光和mems扫描微镜的三维测量装置，其特征在于，采用放缩比例系数校准所述深度距离数据，以确保所述深度距离数据反映实际物理距离，所述放缩比例系数为：
5.根据权利要求1所述的一种基于单线激光和mems扫描微镜...
【专利技术属性】
技术研发人员：谭永红，王虎虎，顾亚，蒋海涛，
申请(专利权)人：上海师范大学，
类型：发明
国别省市：
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