【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电力系统继电保护领域，尤其涉及具有功能巡检和故障监测的双重化采样控制方法技术。
技术介绍
1、精确的模拟量采样是继电保护设备准确动作的支撑，当电力系统中发生各类故障时，继电保护设备通过模拟量采样值进行故障判别，完成切除、隔离故障的功能。当继电保护设备误动作时，会造成巨大的经济损失，因此电力系统对于继电保护的要求极高，为提高继电保护设备的可靠性，220kv电压等级以上继电保护需要采用双重化采样原则，通过该种方式可以大大的提高模拟量采样的可靠性，但是双重化的配置所造成的器件冗余不可避免的会降低系统的运行可靠性。
2、现有技术文件1(cn109001661a)公开了一种双采样值的一致性确定方法、装置、终端设备及存储介质。该方案通过获取双adc芯片采样的采样值，计算出两采样值的矢量和以及矢量差，进而得出在预设时间内矢量和及矢量差的积分，通过矢量和及矢量差的积分值判断两路adc芯片采样值是否一致，从而完成双重化采样值的一致性判别。
3、现有技术文件2(cn110794201a)公开了一种基于两点乘积法的双ad不一致快速判断方法。该方案采用相邻采样点构造双ad的差分数据和平滑数据的正交采样值，将差分数据和平滑数据采用两点乘积法计算双ad采样值幅值，通过采样值过零点判断双ad采样值相位不一致，从而完成双ad采样值的不一致快速判别方法。
4、现有技术文件3(cn105510754a)公开了一种智能变电站中双ad采样不一致判断方法。该方案通过计算被测电气量双adc采样值每周波的基波有效值和真实值进
5、从上述现有技术文件不难发现，双重化采样的研究主要集中在双adc采样值一致性判断上，即提如何高双重化采样系统的采样可靠性，但是对于双重化采样系统的运行可靠性这一短板上的研究甚少，因此亟需提出一种提高双重化采样系统运行可靠性的方法。
技术实现思路
1、为解决上述技术难题，本专利技术提供了一种具有功能巡检和故障监测的双重化采样控制方法，在于保证现有双重化采样系统采样可靠性不变的前提下，提高双重化采样系统运行可靠性，快速检测出双重化采样系统中任意adc通道的故障。
2、本专利技术采用如下的技术方案：本专利技术的第一方面提供了一种具有功能巡检和故障监测的双重化采样控制方法，在双重化采样方案中加入功能巡检，包括：
3、采样模块中的第一adc芯片和第二adc芯片同时对基准源进行采样，比较采样值和基准值，判断第一adc芯片和第二adc芯片采样是否一致，以及采样值是否与基准值相同，进而判定采样模块是否异常，若判定采样模块异常，则申请旁路。
4、优选地，进入功能巡检的时机包括：定期巡检和主动进入巡检。
5、优选地，第一adc芯片和第二adc芯片启动采样后，执行以下步骤：
6、步骤s1，自动进入功能巡检，包括：第一adc芯片和第二adc芯片同时对基准源进行采样，判断第一adc芯片和第二adc芯片采样值是否一致，且采样值是否与基准值相同；
7、步骤s2，如果第一adc芯片和第二adc芯片的采样值相同，且均等于基准值，则功能巡检通过，进入步骤s3；否则功能巡检不通过，进入步骤s4；
8、步骤s3，第一adc芯片和第二adc芯片继续正常采样，从对基准源采样切换回对被测电气量采样，当第一adc芯片和第二adc芯片的采样电压码值偏差超过某定值，则返回步骤s1，再次进入功能巡检；
9、步骤s4，巡检不通过可以分为三种具体情况，情况1：第一adc芯片和第二adc芯片采样一致，但是不等于基准值；情况2：第一adc芯片和第二adc芯片采样不一致，但是其中一个adc芯片的采样值等于基准值；情况3：第一adc芯片和第二adc芯片采样不一致且均不等于基准值；如发生情况1则进入步骤s5，如发生情况2则进入步骤s6，如发生情况3则进入步骤步骤s7；
10、步骤s5，将第一adc芯片和第二adc芯片相同的采样电压码值与基准值相比，若偏差超过某定值，则判定采样模块异常，并申请旁路；若偏差不超过某定值，从对基准源采样切换回对被测电气量采样，定期返回步骤s1；
11、步骤s6，取用与基准值一致的adc芯片作为有效芯片，继续正常采样，弃用与基准值不一致的adc芯片采样数据，并定期返回步骤s1对有效adc芯片进行功能巡检，如巡检发现该adc芯片失效，则判定采样模块异常，并申请旁路；
12、步骤s7，无法判断第一adc芯片和第二adc芯片是否正常工作，申请旁路。
13、优选地，功能巡检中进行对比的两adc芯片采样值，为瞬时采样值。
14、优选地，步骤s1中，通过多个周期平均的方式，判断第一adc芯片和第二adc芯片采样值是否一致，且采样值是否与基准值相同；
15、步骤s3中，一个采样周期采样一次，通过多次比较第一adc芯片和第二adc芯片的采样电压码值偏差来确认是否主动返回步骤s1进入功能巡检。
16、优选地，定期返回步骤s1进行功能巡检的频率保持在不影响系统正常运行频率之下。
17、优选地，若需要确定每个采样周期是否正确，定期返回步骤s1的功能巡检频率和系统采样频率一样；
18、若系统敏感性低，依照可容忍的次数降低功能巡检的频率。
19、优选地，所述基准源为稳定电压，包括为fpga内核电压或带有电源监视的电压源。
20、优选地，当基准源设计电源监视时，当第一adc芯片或第二adc芯片采样电压码值偏差超过某定值，但fpga未报基准源异常报警，则认为该adc芯片故障。
21、本专利技术的第二方面提供了一种具有功能巡检和故障监测的双重化采样控制系统，包括：第一adc芯片、第二adc芯片和fpga；第一adc芯片、第二adc芯片将采样结果输出至fpga，以所述的具有功能巡检和故障监测的双重化采样控制方法，对第一adc芯片、第二adc芯片进行功能巡检和故障检测。
22、与现有技术相比，本专利技术的有益效果至少包括：
23、1)能发现双重化采样系统中任一路adc采样通道的故障。
24、2)在不影响系统正常运行的前提下，在双重化采样系统中加入了功能巡检。
25、3)双adc芯片的采样值不仅进行相互比较，还与基准源进行比较，有效提高判断可靠性。
26、4)本专利技术判断逻辑清晰明了，程序负载小。
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1.一种具有功能巡检和故障监测的双重化采样控制方法，其特征在于，在双重化采样方案中加入功能巡检，包括：
2.根据权利要求1所述的一种具有功能巡检和故障监测的双重化采样控制方法，其特征在于：
3.根据权利要求1所述的一种具有功能巡检和故障监测的双重化采样控制方法，其特征在于：
4.根据权利要求1至3中任一项所述的一种具有功能巡检和故障监测的双重化采样控制方法，其特征在于：
5.根据权利要求3所述的一种具有功能巡检和故障监测的双重化采样控制方法，其特征在于：
6.根据权利要求3所述的一种具有功能巡检和故障监测的双重化采样控制方法，其特征在于：
7.根据权利要求6所述的一种具有功能巡检和故障监测的双重化采样控制方法，其特征在于：
8.根据权利要求1或2所述的一种具有功能巡检和故障监测的双重化采样控制方法，其特征在于：
9.根据权利要求8所述的一种具有功能巡检和故障监测的双重化采样控制方法，其特征在于：
10.一种具有功能巡检和故障监测的双重化采样控制系统，包括：第一ADC芯片、第
...【技术特征摘要】
1.一种具有功能巡检和故障监测的双重化采样控制方法，其特征在于，在双重化采样方案中加入功能巡检，包括：
2.根据权利要求1所述的一种具有功能巡检和故障监测的双重化采样控制方法，其特征在于：
3.根据权利要求1所述的一种具有功能巡检和故障监测的双重化采样控制方法，其特征在于：
4.根据权利要求1至3中任一项所述的一种具有功能巡检和故障监测的双重化采样控制方法，其特征在于：
5.根据权利要求3所述的一种具有功能巡检和故障监测的双重化采样控制方法，其特征在于：
6.根据权利要求3所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：虞晓阳，汪涛，李汉杰，李乐乐，李响，吴建国，
申请(专利权)人：南京南瑞继保工程技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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