System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种探地雷达图像解释方法、装置、介质及设备制造方法及图纸_技高网
当前位置: 首页 > 专利查询>河海大学专利>正文

一种探地雷达图像解释方法、装置、介质及设备制造方法及图纸

技术编号:41391607 阅读:5 留言:0更新日期:2024-05-20 19:14
本发明专利技术涉及一种探地雷达图像解释方法、装置、介质及设备,所述方法包括:获取待测区的雷达探测深度剖面图和深度剖面CAD图;叠放并对齐所述雷达探测深度剖面图和所述深度剖面CAD图,得到对齐图;基于所述对齐图的地质信息和雷达反射特征信息,确定待测区的各地质层的雷达图像特征,得到雷达图像解释结果。本发明专利技术提出的探地雷达图像解释方法将探地雷达的探测图像和工程设计CAD图相结合,直接在AutoCAD系统下构建地层结构图,让探地雷达图像获得高精度的地质解释。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于雷达图像处理,涉及一种探地雷达图像解释方法、装置、介质及设备


技术介绍

1、传统的探地雷达图像解释一般是基于雷达图像本身来进行的,在参考地勘资料的条件下,将缺陷(或异常)位置直接标注在雷达图像上或直接在图像上进行地层分层,而且目前的雷达商业软件也是直接基于雷达图像本身来进行解释的,现有的探地雷达图像解释方法不能直接反映出探测效果及地层分层结构等问题。还有一些是借助于其他数据处理软件,比如matlab等来对图像进行分析和解释的,还未发现直接利用工程设计图(cad图)在autocad系统下来和雷达图像进行对比解释的。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于克服现有技术中的不足,提供一种探地雷达图像解释方法、装置、介质及设备,将探地雷达图像和工程设计cad图相结合,直接在autocad系统下构建地层结构图,获得高精度的地质解释。

2、为达到上述目的,本专利技术是采用下述技术方案实现的:

3、一方面,本专利技术提供一种探地雷达图像解释方法,包括:

4、获取待测区的雷达探测深度剖面图和深度剖面cad图;

5、叠放并对齐所述雷达探测深度剖面图和所述深度剖面cad图,得到对齐图;

6、基于所述对齐图的地质信息和雷达反射特征信息,确定待测区的各地质层的雷达图像特征,得到雷达图像解释结果。

7、进一步地,所述获取待测区的雷达探测深度剖面图包括:

8、通过探地雷达对所述待测区进行探测,获得原始深度剖面图

9、对所述原始深度剖面图进行图像处理,得到所述雷达探测深度剖面图。

10、进一步地,所述图像处理包括:零点校正、数据延伸、背景消除、增益调整、地形校正、水平叠加以及反褶积。

11、进一步地,所述对齐包括长度对齐和比例对齐。

12、所述长度对齐和比例对齐包括:根据所述深度剖面cad图的横坐标调整所述雷达探测深度剖面图的横坐标,使得二者的横坐标长度和比例一致;根据所述深度剖面cad图的纵坐标调整所述雷达探测深度剖面图的纵坐标,使得二者的纵坐标长度和比例一致。

13、进一步地,所述地质信息包括深度剖面cad图提供的每层地质层的地质信息和位置信息;所述雷达反射特征信息包括雷达探测深度剖面图提供的每层反射层的雷达反射特征信息。

14、第二方面,本专利技术提供一种探地雷达图像解释装置,所述装置包括:

15、获取模块,用于获取待测区的雷达探测深度剖面图和深度剖面cad图;

16、对齐模块,用于叠放并对齐所述雷达探测深度剖面图和所述深度剖面cad图,得到对齐图;

17、解释模块,用于基于所述对齐图的地质信息和雷达反射特征信息,确定待测区的各地质层的雷达图像特征,得到雷达图像解释结果。

18、进一步地,所述解释模块具体用于对比所述深度剖面cad图提供的每层地质层的地质信息和位置信息以及所述雷达探测深度剖面图提供的每层反射层的雷达反射特征信息,获得待测区的雷达探测深度剖面图的地质解释。

19、第三方面,本专利技术提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现上述的探地雷达图像解释方法的步骤。

20、第四方面,本专利技术提供一种计算机设备,包括:

21、存储器,用于存储计算机程序;

22、处理器,用于执行所述计算机程序以实现上述的探地雷达图像解释方法的步骤。

23、与现有技术相比,本专利技术所达到的有益效果:

24、本专利技术提供的探地雷达图像解释方法包括:获取待测区的雷达探测深度剖面图和深度剖面cad图;叠放并对齐所述雷达探测深度剖面图和所述深度剖面cad图;根据所述深度剖面cad图的地质层信息与所述雷达探测深度剖面图的反射层信息,获得雷达探测深度剖面图的地质解释。方法通过对齐雷达探测深度剖面图与深度剖面cad图,简单高效地实现了深度剖面cad图的地质层所提供的地质信息和位置信息与雷达探测深度剖面图的反射层所提供的反射特征信息的对应,让探地雷达图像获得高精度的地质解释,为后期的施工和处理提供指导依据。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种探地雷达图像解释方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的探地雷达图像解释方法,其特征在于,所述获取待测区的雷达探测深度剖面图包括:

3.根据权利要求2所述的探地雷达图像解释方法,其特征在于,所述图像处理包括:零点校正、数据延伸、背景消除、增益调整、地形校正、水平叠加以及反褶积。

4.根据权利要求1所述的探地雷达图像解释方法,其特征在于,所述对齐包括长度对齐和比例对齐。

5.根据权利要求4所述的探地雷达图像解释方法,其特征在于,所述长度对齐和比例对齐包括:根据所述深度剖面CAD图的横坐标调整所述雷达探测深度剖面图的横坐标,使得二者的横坐标长度和比例一致;根据所述深度剖面CAD图的纵坐标调整所述雷达探测深度剖面图的纵坐标,使得二者的纵坐标长度和比例一致。

6.根据权利要求1所述的探地雷达图像解释方法,其特征在于,所述地质信息包括深度剖面CAD图提供的每层地质层的地质信息和位置信息;所述雷达反射特征信息包括雷达探测深度剖面图提供的每层反射层的雷达反射特征信息。

7.一种探地雷达图像解释装置,其特征在于,包括:

8.根据权利要求7所述的探地雷达图像解释装置,其特征在于,所述解释模块具体用于对比所述深度剖面CAD图提供的每层地质层的地质信息和位置信息以及所述雷达探测深度剖面图提供的每层反射层的雷达反射特征信息,获得待测区的雷达探测深度剖面图的地质解释。

9.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现权利要求1-6中任一项所述的探地雷达图像解释方法的步骤。

10.一种计算机设备,其特征在于,包括:

...

【技术特征摘要】

1.一种探地雷达图像解释方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的探地雷达图像解释方法,其特征在于,所述获取待测区的雷达探测深度剖面图包括:

3.根据权利要求2所述的探地雷达图像解释方法,其特征在于,所述图像处理包括:零点校正、数据延伸、背景消除、增益调整、地形校正、水平叠加以及反褶积。

4.根据权利要求1所述的探地雷达图像解释方法,其特征在于,所述对齐包括长度对齐和比例对齐。

5.根据权利要求4所述的探地雷达图像解释方法,其特征在于,所述长度对齐和比例对齐包括:根据所述深度剖面cad图的横坐标调整所述雷达探测深度剖面图的横坐标,使得二者的横坐标长度和比例一致;根据所述深度剖面cad图的纵坐标调整所述雷达探测深度剖面图的纵坐标,使得二者的纵坐标长度和比例一致。

【专利技术属性】
技术研发人员:杨永清李国维曹雪山
申请(专利权)人:河海大学
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1