【技术实现步骤摘要】
本揭示内容关于一种存储器测试系统及方法，特别关于一种使用电源供应器提供参考电压的存储器测试系统及方法。
技术介绍
1、存储器测试通常使用额外的电力来抬升或降低存储器装置接收的电压，并执行不同的测试程序来测试存储器是否能在系统平台上正常运作。上述事项无法由测试系统来自动执行，而需要人员在现场频繁地调整电压或执行不同程序。因此，存储器测试耗费大量人力。
技术实现思路
1、本揭示内容的一实施例提供一种存储器测试系统，包括至少一存储器装置、电源供应器以及处理器。电源供应器用以根据控制信号提供第一参考电压至至少一存储器装置。处理器用以提供控制信号以控制电源供应器在多个电压位准之间改变第一参考电压，并在电压位准之下测试至少一存储器装置以产生多个第一测试结果，第一测试结果对应电压位准。
2、在一些实施例中，处理器进一步用以控制电源供应器步升或步降第一参考电压。
3、在一些实施例中，电压位准中的两个邻近电压位准间的差距等于电压位准中的另外两个邻近电压位准间的差距。
4、...
【技术保护点】
1.一种存储器测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中该处理器进一步用以控制该电源供应器步升或步降该第一参考电压。
3.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中所述多个电压位准中的两个邻近电压位准间的差距等于所述多个电压位准中的另外两个邻近电压位准间的差距。
4.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中该处理器进一步用以：
5.根据权利要求4所述的存储器测试系统，其中该处理器进一步用以：
6.根据权利要求5所述的存储器测试系统，其中该处理器进一步用以：
7.根据权...
【技术特征摘要】
1.一种存储器测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中该处理器进一步用以控制该电源供应器步升或步降该第一参考电压。
3.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中所述多个电压位准中的两个邻近电压位准间的差距等于所述多个电压位准中的另外两个邻近电压位准间的差距。
4.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中该处理器进一步用以：
5.根据权利要求4所述的存储器测试系统，其中该处理器进一步用以：
6.根据权利要求5所述的存储器测试系统，其中该处理器进一步用以：
7.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中该第一参考电压在第一期间具有所述多个电压位准中的第一电压位准，在第二期间具有所述多个电压位准中的第二电压位准，且在第三期间具有所述多个电压位准中的第三电压位准；
8.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其中
9.根据权利要求8所述的存储器测试系统，其中该处理器进一步用以：
10.根据权利要求8所述的存储器测试系统，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈建宇，
申请(专利权)人：南亚科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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