【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种花键轴对位加工检具，属于机械加工。
技术介绍
1、轴类产品用于高精度的传动，根据产品技术要求，在同一工件上，轴两端花键的键与槽相对对位要求±5＇，同时在轴中间外圆有一导向槽，槽中心对应一花键键宽中心，对位精度要求公差±10＇，以上所述的检验是在加工过程中检验或加工完成后在三坐标上检验。
2、现有的检验缺点是：
3、1）、在加工工件过程中检验产生误差，两端花键对位公差0.02，检验公差过小，检验不准确，两者误差相累积使误差加大影响产品精度，容易出现废品；
4、2）、在加工完成后上三坐标检验，由于两端花键是槽中心对位键中心，无法准确定位，检验存在误差；
5、3）、在产品加工过程中不清楚产品是否合格，需在加工完成后才知道产品是否合格。
技术实现思路
1、为了克服现有技术的不足，本技术提供了一种花键轴对位加工检具，该检具采用加长检验基准，增加检验公差数值，对产品检验的精度高，有效的提高了工作效率。
2、本技术解决其技术问题所...
【技术保护点】
1.一种花键轴对位加工检具，其特征在于：包括槽定位套（1）、加长检验臂a（2）、键定位套（4）、加长检验臂b（8）、导向槽定位套（6）和加长检验臂c（9），所述槽定位套（1）、键定位套（4）和导向槽定位套（6）均为一圆环形工件；槽定位套（1）外圆面的一侧设有一加长检验臂a（2），加长检验臂a（2）与槽定位套（1）组成了一个单独的检具；键定位套（4）外圆面的一侧设有一加长检验臂b（8），加长检验臂b（8）与键定位套（4）组成了另一个单独的检具；导向槽定位套（6）外圆面的一侧设有一加长检验臂c（9），加长检验臂c（9）与导向槽定位套（6）组成了又一个单独的检具。
<...【技术特征摘要】
1.一种花键轴对位加工检具，其特征在于：包括槽定位套（1）、加长检验臂a（2）、键定位套（4）、加长检验臂b（8）、导向槽定位套（6）和加长检验臂c（9），所述槽定位套（1）、键定位套（4）和导向槽定位套（6）均为一圆环形工件；槽定位套（1）外圆面的一侧设有一加长检验臂a（2），加长检验臂a（2）与槽定位套（1）组成了一个单独的检具；键定位套（4）外圆面的一侧设有一加长检验臂b（8），加长检验臂b（8）与键定位套（4）组成了另一个单独的检具；导向槽定位套（6）外圆面的一侧设有一加长检验臂c（9），加长检验臂c（9）与导向槽定位套（6）组成了又一个单独的检具。
【专利技术属性】
技术研发人员：姜澎涛，孙长龙，
申请(专利权)人：齐齐哈尔翔飞齿轮制造有限公司，
类型：新型
国别省市：
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