【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电子设备，具体涉及一种为电子设备适配性能参数的方法、装置和介质。
技术介绍
1、目前，终端用户对于电子设备的性能要求越来越高。但是，在电子设备的开发阶段，通常是由工程师基于温度定制出一套固定的性能参数，并通过软件去执行这套固定的性能参数。然而，对于电子设备而言，无论是硬件系统、结构系统、散热系统都存在一定的公差，这些公差都会影响到电子设备最终的性能。这就导致同一厂家不同批次的电子设备的最终性能存在较大差异，从而导致部分电子设备无法满足终端用户的要求。如何解决硬件系统、结构系统、散热系统的公差对电子设备最终的性能的影响，以满足终端客户的应用需求，成为亟待解决的问题。
技术实现思路
1、针对现有技术中存在的上述技术问题，提出了本申请。本申请旨在提供一种为电子设备适配性能参数的方法、装置和介质，其能够灵活地针对不同电子设备的发热温度适配性能参数，从而提高电子设备的性能。
2、根据本申请的第一方案，提供一种为电子设备适配性能参数的方法，所述方法包括：对所述电子设备按照预先设置的第一性能参数进行第一性能测试；在第一性能测试过程中，获取所述电子设备中的各个温度传感器探测出的温度的温度代表值；基于各个温度代表值，确定出对所述电子设备的表面温度影响最大的关注温度传感器；获取所述关注温度传感器探测出的温度变化状况，基于所述温度变化状况对所述第一性能参数进行调整以得到第二性能参数，以使得基于所述第二性能参数对所述电子设备进行第二性能测试时，所述第二性能测试的第二测试结果符合性能目
3、根据本申请的第二方案，提供一种为电子设备适配性能参数的装置，所述装置包括处理器，所述处理器配置为执行如下步骤：对所述电子设备按照预先设置的第一性能参数进行第一性能测试；在第一性能测试过程中，获取所述电子设备中的各个温度传感器探测出的温度的温度代表值；基于各个温度代表值，确定出对所述电子设备的表面温度影响最大的关注温度传感器；获取所述关注温度传感器探测出的温度变化状况，基于所述温度变化状况对所述第一性能参数进行调整以得到第二性能参数，以使得基于所述第二性能参数对所述电子设备进行第二性能测试时，所述第二性能测试的第二测试结果符合性能目标。
4、根据本申请的第三方案，提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序当被处理器执行时使所述处理器执行本申请各个实施例所述的为电子设备适配性能参数的方法。
5、与现有技术相比，本申请实施例的有益效果在于：
6、本申请实施例提供的方法对电子设备按照预先设置的第一性能参数进行第一性能测试，并通过比较电子设备的各个温度传感器的温度，来确定出对电子设备的表面温度影响最大的关注温度传感器，然后基于关注温度传感器探测出的温度变化状况对第一性能参数进行调整，从而得到与各个电子设备适配的第二性能参数。相比于将所有的电子设备均配置一套固定的性能参数，本申请实施例提供的方法考虑到各个电子设备的关注温度传感器的温度变化状况，即考虑到电子设备在运行过程中的发热温度，进而适配符合各个电子设备的发热特点的第二性能参数，优化了电子设备的性能。
7、上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述说明和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。
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1.一种为电子设备适配性能参数的方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述温度变化状况对所述第一性能参数进行调整以得到第二性能参数具体包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在基于所述第一中值温度对应的第二性能参数进行第二性能测试的过程中，判断所述电子设备的关注温度传感器的第二关注温度代表值是否符合预设范围；
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述温度变化状况对所述第一性能参数进行调整以得到第二性能参数具体包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，获取电子设备在进行第二性能测试的过程中的关注温度传感器的第四关注温度代表值；
7.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，第一性能参数和第二性能参数至少包括CPU功耗控制参数、GPU功耗控制参数、CPU和GPU的功耗切换控制参数以及风扇转速控制参数。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取第一性能测试的第一测试
9.一种为电子设备适配性能参数的装置，其特征在于，所述装置包括处理器，所述处理器配置为执行如下步骤：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序当被处理器执行时使所述处理器执行如权利要求1-8任一项所述的为电子设备适配性能参数的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种为电子设备适配性能参数的方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述温度变化状况对所述第一性能参数进行调整以得到第二性能参数具体包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在基于所述第一中值温度对应的第二性能参数进行第二性能测试的过程中，判断所述电子设备的关注温度传感器的第二关注温度代表值是否符合预设范围；
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述温度变化状况对所述第一性能参数进行调整以得到第二性能参数具体包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，获取电子设备在进行第二性能测试的过...
【专利技术属性】
技术研发人员：叶振兴，倪扬，刘鑫祖，强兵兵，魏玉栋，
申请(专利权)人：合肥联宝信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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