【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于全场光学相干层析成像,特别涉及一种采用电调焦透镜的扫频全场光学相干层析成像系统及方法。
技术介绍
1、光学相干层析技术(oct)可以进行三维无损层析成像,目前oct主要分为点扫描式oct和全场oct。
2、其中,点扫描式oct通过点扫描可以获取深度方向线深度数据,然后通过横向扫描获得一个横截面数据即yoz方向的面数据,最后再纵向扫描获得一个体数据。由于点扫描式oct可以采集一个横断面图像即yoz面数据而不是采集一个水平面即xoy面数据,因此其适合一些特殊应用如皮肤检测;点扫描式oct存在一些局限性,例如三维成像速度较慢,并且大焦深成像的横向分辨率也较低。现有的专利在点扫描式oct中加入了电调焦透镜,针对不同人眼屈光度不同,改变系统焦面位置,从而保证了成像质量,但该方法无法提高该系统的横向分辨率。
3、全场光学相干层析技术(full-field optical coherence tomography,ff-oct),用光源均匀照明样品,通过面阵探测器采集样品反射回的信号,无需横向扫描就可重构出样品内
...【技术保护点】
1.一种采用电调焦透镜的扫频全场光学相干层析成像系统,包括照明模块、参考臂模块、样品臂模块、探测臂模块;所述照明模块提供扫频光源,然后将光分别送入所述参考臂模块、所述样品臂模块;所述样品臂模块返回的反射光和所述参考臂模块返回的反射光发生干涉,并进入探测臂模块;所述探测臂模块获取干涉信号;其特征在于:
2.根据权利要求1所述系统,其特征在于,所述参考臂模块和样品臂模块的光程差在扫频光源的相干长度范围内,所述参考臂模块射出的参考光和所述样品臂模块射出的样品光在所述探测臂模块的探测器上发生干涉。
3.根据权利要求1所述系统,其特征在于,所述电调焦透镜
...【技术特征摘要】
1.一种采用电调焦透镜的扫频全场光学相干层析成像系统,包括照明模块、参考臂模块、样品臂模块、探测臂模块;所述照明模块提供扫频光源,然后将光分别送入所述参考臂模块、所述样品臂模块;所述样品臂模块返回的反射光和所述参考臂模块返回的反射光发生干涉,并进入探测臂模块;所述探测臂模块获取干涉信号;其特征在于:
2.根据权利要求1所述系统,其特征在于,所述参考臂模块和样品臂模块的光程差在扫频光源的相干长度范围内,所述参考臂模块射出的参考光和所述样品臂模块射出的样品光在所述探测臂模块的探测器上发生干涉。
3.根据权利要求1所述系统,其特征在于,所述电调焦透镜通过控制电流ietl控制自身焦距fetl;所述电调焦透镜的控制电流为0-250ma,聚焦范围为50-120mm;所述电调焦透镜与第一物镜组成光学系统的后方焦距zfocal可调范围δzmax大于4.4mm。
4.根据权利要求1所述系统,其特征在于,所述第一物镜的数值孔径大于0.2,焦距为20m...
【专利技术属性】
技术研发人员:王玲,李钱森,许晨,徐铭恩,
申请(专利权)人:杭州电子科技大学,
类型:发明
国别省市:
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